Occasion CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 12000 #9266768 à vendre en France

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ID: 9266768
Semi-automatic wafer prober Ambient / Hot thermal Hot / Cold thermal chuck Micro-chamber Femtoguard Thermal wafer chuck, 8" TEMPTRONIC Thermal Tri-axial wafer chuck (Ni) TEMPTRONIC TPO 3000-2300-1 Thermal controller / Chiller Temperature range: -50°C - 200°C System controller: Rack-mount computer, 19" Operating system: Windows MITUTOYO FS-70 Microscope / A-Zoom microscope With trinocular head Brightfield illumination (Co-axial) Eye pieces lens: 10x Objective lens: MPlan APO 20x Optics bridge mount: X-Axis movement range, 2" (± 1" from center of travel) Y-Axis movement range, 2" (± 1" from center of travel) Pneumatic tilt back Z-lift Vacuum connection panels With 10-vacuum ports Top hat assembly Flat panel computer monitor No manipulator Power: 115V, 60Hz, Single phase, 20 Amps.
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 12000 est un prober qui a été développé pour offrir aux ingénieurs et techniciens semi-conducteurs des performances exceptionnelles en sondant des dispositifs complexes sur des plaquettes ou d'autres substrats. Ses caractéristiques comprennent un appareil transducteur à double balayage à commande numérique et une large gamme d'axes Z de 12 mm pouvant accueillir des substrats de sondes jusqu'à 330 mm de diamètre. ALESSI Summit 12000 est livré avec un contrôleur puissant qui fournit plusieurs avantages qui sont essentiels pour mesurer et surveiller les performances au niveau des appareils lors des tests de sonde. Avec son système de mesure haute résolution, le prober détecte la plupart des variations minuscules de résistance ou de capacité et peut surveiller avec précision même les plus faibles fluctuations de température. Il dispose également d'un logiciel d'analyse et de diagnostic avancé qui permet d'identifier toute lecture non normale et même de prédire les niveaux de performance futurs. CASCADE MICROTECH Summit 12000 dispose de fonctionnalités supplémentaires qui lui permettent d'obtenir des résultats fiables. Par exemple, son unité interne de compensation de fréquence de puce compense la dérive de fréquence dans le processus de mesure, assurant que les utilisateurs reçoivent des résultats cohérents et précis. Il dispose également d'un mécanisme de levage des broches qui permet aux utilisateurs de soulever une ou plusieurs broches du substrat sans trop soulever des autres broches. Le prober est également livré avec la propriété de contrôle latéral de la broche et de séparation de la broche pour plus de précision et des données plus propres. Summit 12000 est facile à utiliser et nécessite une interaction minimale de l'opérateur pendant les tests. Il est également livré avec une interface utilisateur graphique simple et intuitive qui simplifie l'ensemble du processus. Les fonctionnalités avancées de configuration et de calibration de l'appareil permettent aux utilisateurs de configurer des séquences de test répétables et de calibrer la machine en fonction des caractéristiques d'un appareil ainsi que de l'environnement dans lequel il est testé. Le développeur, ALESSI, s'est imposé comme un leader dans l'industrie des semi-conducteurs. Son engagement à long terme dans la recherche et le développement a fait de l'entreprise l'un des noms les plus fiables lorsqu'il s'agit de tester et d'inspecter des substrats. En outre, les services d'assistance et l'équipe d'assistance à la clientèle de l'entreprise sont disponibles pour une assistance technique en cas de besoin.
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