Occasion DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM #102353 à vendre en France
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ID: 102353
Hand held probe for TEKTRONIX TDR oscilloscopes
30GHz, Differential & Single-end, 0.25~2mm pitch adjustable
Used for: TDR/TDT, S-parameter
Features:
30 GHz Bandwidth
True Odd Mode 100 ohm Differential Input Impedance
Probe can be converted to 50 ohm input impedance
TDR Launch Discontinuity <20 mv
Fall Time 20 ps or <5 ps Fall Time Degradation
Fully Balanced Differential Signals without Ground Contact
Adjustable Probe Pitch from 0.25 mm to 2.0 mm
Probe Tip diameter 0.254 mm
Gold Plated Conductive Diamond non oxidizing probe tips for
repeatable TDR measurements
Low probing force <10 grams
Four probes in one: Use as a 100 ohm, 50 ohm, as a Hand Probe or
Mount in a probe articulating arm for hands free probing
Full Set of Probe Pitch Calibration Accessories Included
Characteristics:
Attenuation: 1X
Probe Only Bandwidth: 30 GHz
TDR Degradation: <5 ps
Probe Pitch: 0.25 mm to 2.0 mm (signal tip to signal tip)
Connector Type: SMA
Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps
Impedance: 100 differential, 50 common mode,
Max Voltage In: 5.0 V
(Note: numeric values shown are typical)
Applications:
Create - Single Ended, Differential Insertion, Return Loss Sparameters
from TDR/ TDT Measurements for determining interconnect
bandwidth performance using Tektronix DSA8200 TDR and IConnect®
Impedance Testing - Use IConnect for precision impedance analysis
of IC Packages, Cables, PCB’s and Backplane Testing
Failure Analysis of Device Packages - Locate failure modes.
DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM est un dispositif avancé de détection des semi-conducteurs conçu pour fournir une précision et une vitesse de pointe dans les essais et la mesure des performances des matériaux semi-conducteurs. L'unité intègre une gamme de sondes de haute précision qui ont une conception ultra-faible bruit, permettant aux utilisateurs de mesurer avec précision les signaux électriques provenant du plus petit des circuits. L'appareil dispose d'un design compact et ergonomique avec une plate-forme longue et stable pour des tests efficaces. Le support de broche réglable permet un positionnement facile pour accéder rapidement et cibler avec précision les composants de test, permettant une exploration plus rapide et de meilleures performances. La plate-forme permet également un alignement rapide et l'accès avant de l'unité, ce qui aide à réduire la contamination provenant des contaminants extérieurs. Les têtes de sonde sont conçues pour fournir une opération puissante mais silencieuse, minimisant la chaleur et le bruit lors de l'acquisition de données. Les sondes disposent d'un retour au sol indépendant pour une détection simplifiée du signal de blindage et d'une fonction de chauffage interne assurant une grande cohérence avec des lectures précises. Les bras de manutention d'échantillons amovibles assurent un chargement et un déchargement rapides des échantillons, créant ainsi une solution de test efficace. Gigaprobe DVT30-1MM offre également une reconnaissance de contact automatisée avec quatre niveaux de force de contact sélectionnables par l'utilisateur et une vérification de référence automatisée dynamique, garantissant que chaque contact est correctement testé. De plus, la durée du cycle de mesure peut être maximisée avec un réglage de la limite de tension basé sur la rétroaction et des tests automatisés sans contact avec une sonde multi-tension. Dans l'ensemble, DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM est un prober innovant, efficace et puissant conçu pour répondre aux besoins de test des semi-conducteurs les plus difficiles. Ses fonctionnalités avancées, ses performances fiables et son acquisition de données à grande vitesse en font un choix idéal pour les professionnels du test des laboratoires et des semi-conducteurs à la recherche d'une solution de sondage fiable et précise.
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