Occasion ELECTROGLAS 2001XA #9170435 à vendre en France

ELECTROGLAS 2001XA Prober est un équipement avancé de sonde de plaquettes semi-conductrices capable de sonder jusqu'à 300mm de plaquettes semi-conductrices. Construit sur la plate-forme robuste 2001X, 2001XA comprend des diagnostics avancés, des logiciels et des capacités de sondes, ce qui en fait un choix idéal pour les fabricants de puces traitant avec des plaquettes plus petites et des décomptes plus élevés. ELECTROGLAS 2001XA dispose à la fois d'un bras de sonde électrique et physique, permettant aux utilisateurs de positionner et de contacter avec précision les matrices individuelles sur la plaquette avant de déclencher les mesures électriques. La conception avancée de 2001XA permet en outre d'utiliser deux types de sondes : contact et non contact. La sonde de contact permet l'analyse des caractéristiques physiques de la filière, telles que l'épaisseur de la filière, par l'utilisation de sondes spécialisées. La sonde sans contact permet la caractérisation électrique du circuit de la plaquette. ELECTROGLAS 2001XA Prober offre la répétabilité et la précision de pointe de l'industrie dans la recherche de grandes plaquettes. Il est également conçu et construit pour l'évolutivité et la facilité d'utilisation. Le logiciel de contrôle de la sonde (PCS) de 2001XA permet aux utilisateurs de passer rapidement entre les plaquettes et la taille des matrices, tout en maintenant un contrôle étroit sur le processus de sonde lui-même. ELECTROGLAS 2001XA est également compatible avec 2001XA-U Vacuum Hucking System, permettant le contact direct sous vide de la plaquette pendant le processus de sonde. Cela réduit les risques de rupture des plaquettes pendant le processus de sondage et garantit des résultats de meilleure qualité. ELECTROGLAS 2001XA dispose d'un large éventail de capacités diagnostiques. Les diagnostics avancés à signaux mixtes le placent à un niveau plus élevé de la plupart des autres sondes. La mémoire transitoire à haut débit de l'unité permet l'analyse de plus de 11 millions d'échantillons transitoires par plaquette. La fonction de réflectométrie optique détecte la topologie de surface en 2D et 3D, offrant une meilleure fidélité au contact. Les algorithmes avancés de 2001XA détectent également l'inadéquation des paramètres de die à die et les performances du circuit sur un niveau de plaquette. En résumé, ELECTROGLAS 2001XA Prober est une machine avancée conçue pour tester et sonder les plaquettes semi-conductrices. Il offre des fonctionnalités avancées et des diagnostics intégrés. Il a également une excellente évolutivité et est conçu pour la facilité d'utilisation.