Occasion ELECTROGLAS 2010CX #9248878 à vendre en France

ELECTROGLAS 2010CX
Fabricant
ELECTROGLAS
Modèle
2010CX
ID: 9248878
Taille de la plaquette: 6"
Probers, 6".
ELECTROGLAS 2010CX est un prober semi-conducteur très avancé qui permet de tester très rapidement des circuits intégrés sur des substrats avancés tels que le silicium, l'arséniure de gallium et d'autres semi-conducteurs composés. Avec sa technologie d'entraînement électrostatique avancée brevetée, cet équipement a des vitesses d'essai et une précision sans précédent. 2010CX apporte plus de souplesse et de performance au processus de test. Il est livré avec un contrôleur d'écran tactile avancé et un accès à plusieurs niveaux qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement les tests et de se déplacer entre eux avec facilité. Le Touch Screen Controller permet également la configuration d'algorithmes avancés puissants qui peuvent être ajustés rapidement pour tenir compte de la dégradation du système de test. Ce prober puissant dispose de capacités de balayage XYZ avancées, permettant de tester plusieurs puces ou modèles sur plaquette avec plus de vitesse et de précision que jamais auparavant. Grâce à sa capacité de balayage XYZ, ELECTROGLAS 2010CX peut détecter les circuits ouverts et courts et d'autres défauts avec une précision rapide et précise. En outre, 2010CX est capable de chip à la compatibilité universelle des paquets, en testant à la fois Bare Die et QFN, CSP et TSOP paquets. L'unité offre également une vitesse et une précision de pointe dans les essais de caractérisation, avec des essais haute résolution en courant continu, en courant alternatif et en capacité. La technologie avancée permet également des mesures de capacité et d'inductance très précises à différentes températures. Cette machine est également équipée d'une pompe de planarisation qui compense les différences de traitement sur la surface de la plaquette et améliore la précision des mesures sur la température. En termes de sécurité, ELECTROGLAS 2010CX comprend une protection ESD avancée qui réduit considérablement le risque de dommages ESD pour le dispositif testé. En outre, l'outil est conforme aux directives ISO-9000, sécurité et européennes et répond également aux normes CEM (électromagnétiques). Bref, c'est un prober idéal pour tester des plaquettes semi-conductrices haut de gamme.
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