Occasion ELECTROGLAS 2010X #132668 à vendre en France

ELECTROGLAS 2010X est un prober utilisé dans l'ingénierie des semi-conducteurs et les essais de fabrication. C'est un test de contact automatique qui est utilisé dans la production de circuits intégrés, plaquettes, dispositifs, RTD (Radiation Treated Die), et un large éventail d'autres processus de test. Ce prober est conçu pour permettre des débits plus élevés avec une précision de sonde précise. 2010X a une tête d'essai de cantilever qui permet d'utiliser moins de force lors des essais, augmentant la précision et la fiabilité des résultats des tests de contact. Le prober dispose également d'une interface conviviale intuitive, composée d'une interface utilisateur graphique (interface graphique), de boutons, d'interrupteurs rotatifs et de joggeurs qui lui permettent de contrôler facilement le prober. L'interface graphique dispose d'une bibliothèque de modèles de test stockés, offre une variété de fonctionnalités telles que les capacités d'imagerie et la surveillance en temps réel des résultats de test. Ce prober a des capacités paramétriques de mesure en continu à double fréquence, permettant aux utilisateurs d'effectuer des tests en continu fiables. Il est également équipé de LoFES, qui est un système de test électrique basse fréquence qui peut être utilisé pour détecter des erreurs dans des conditions basses. De plus, il y a une fonction de test de conduite à quatre canaux qui permet aux utilisateurs d'effectuer des scénarios de test complexes qui nécessitent plusieurs broches pour engrener avec la même tête de test. ELECTROGLAS 2010X est conforme aux normes PEC (Probing Equipment Check) et SMART (Self-Monitoring and Reporting Technology), ce qui permet aux utilisateurs de surveiller facilement les résultats des tests pour s'assurer qu'ils sont conformes aux paramètres spécifiés. Il dispose de capacités de régulation de température embarquées, ainsi que d'un écran de régulation multilingue qui peut être facilement programmé en fonction des besoins de l'utilisateur. Le prober a un design robuste, avec un cadre en acier et en aluminium résistant, qui contribue à augmenter sa durabilité et à prolonger sa durée de vie. Ce prober a également une méthode de réduction des décharges électrostatiques (EDD) et une gamme de composants actifs et passifs de haute qualité qui servent tous à protéger le dispositif contre les dommages potentiels, la contamination ou la dégradation des performances. Dans l'ensemble, 2010X est un prober extrêmement fiable, très précis et riche en fonctionnalités qui est idéal pour effectuer des tests de contact complexes et à haut débit dans l'industrie des semi-conducteurs. Avec sa précision et sa fiabilité supérieures, il est un excellent choix pour tous ceux qui ont besoin de résultats d'essai fiables et de rendements de production élevés.