Occasion ELECTROGLAS 3001X #9201995 à vendre en France

ELECTROGLAS 3001X est un prober conçu pour automatiser le processus de test électrique sur la filière et les dispositifs semi-conducteurs. Il est utilisé pour la recherche de plaquettes en conjonction avec des systèmes de vision de la machine pour la caractérisation et le test. 3001X est une plate-forme entièrement automatisée qui est construite sur une architecture modulaire et extensible. Il offre un contrôle de mouvement de précision et la précision pour la sonde de tangage fine et a un profil thermique faible pour le balayage à grande vitesse. ELECTROGLAS 3001X prober est conçu pour fournir le plus haut niveau de performance et la gamme supérieure de capacités, couplé avec des caractéristiques de conception innovantes et flexibles. 3001X munis de caractéristiques standard telles que le mouvement bidimensionnel, l'échange double d'échantillons et le chargement automatisé de l'alimentateur par vision. Il offre une grande automatisation pour le test des plaquettes, le test des matrices semi-conductrices et la gestion complète des données. ELECTROGLAS 3001X fonctionne avec des systèmes d'essai automatisés de plaquettes tels que IBM iProbe Cobasys et California Instruments TPA2. En outre, le prober peut fonctionner avec n'importe quel système de vision de la machine spécifié par le client. 3001X est conçu pour réduire le coût des essais et pour augmenter l'efficacité des essais. Son architecture modulaire facilite l'évolution des standards de sondes de plaquettes. Le prober offre des avantages économiques importants et réduit le temps de manipulation tout au long du processus de sondage en augmentant le débit de production. Il peut fournir un balayage bidirectionnel, panoramique et sans entrefer pour le test automatisé de chaque site de contact. Le prober fournit une capacité d'échantillonnage allant jusqu'à 33 plaquettes et a une empreinte optimisée pour l'exploitation du système d'essai électrique. ELECTROGLAS 3001X est également conçu avec GEM, un système d'exploitation avec interface graphique utilisateur (GUI). Cette interface graphique peut être utilisée pour exécuter des lignes de commande simples, correction de désalignement et feedback pour le contrôle de processus. En utilisant l'interface graphique, les utilisateurs peuvent définir les formats de programme de test avec une facilité intuitive et simple. Le prober est également conçu pour une grande précision, répétabilité et résolution jusqu'à deux nanomètres. En outre, 3001X peut accueillir plusieurs sondes électriques avec précision. Il a une conception de mover SMA isolée des vibrations qui offre une rigidité mécanique et des performances de résolution, ainsi qu'une conception robuste sans faille pour un entraînement vertical amélioré et une protection contre les chocs d'axe Z. Enfin, ELECTROGLAS 3001X est livré avec un support complet qui comprend un chemin de mise à niveau, un service à distance, des services en ligne et un réseau de service. Il offre également un support complet pour les applications dans la manutention de la matrice, le tri des plaquettes, la caractérisation des appareils et le test automatisé. 3001X est idéal pour le développement et la production de dispositifs semi-conducteurs et de procédés, car il fournit une technologie de sondage avancée avec des performances et une flexibilité inégalées.