Occasion ELECTROGLAS 3100X #9248180 à vendre en France

ELECTROGLAS 3100X prober est un équipement de sonde de plaquettes très avancé conçu pour aider le test et le développement de dispositifs semi-conducteurs avancés. 3100X fournit des capacités de test à haute précision et à haute vitesse pour des produits complexes tels que les DRAM, les processeurs et les ASIC à grande vitesse. Le système est basé sur ELECTROGLAS rapide et fiable XYZZ Probe Motion Unit, fournissant une précision de position fiable et des temps de test courts. ELECTROGLAS 3100X est conçu pour fournir des résultats d'essai fiables et reproductibles en intégrant les dernières avancées dans la technologie de test au niveau des plaquettes et l'automatisation. La machine permet des tests fiables grâce à ses tests avancés au niveau des plaquettes électriques, y compris des tests de courant, de capacité et d'ACIV, ainsi que sa capacité de sonde angulaire unique. 3100X permet un contrôle rapide et précis de la mémoire, des microprocesseurs, des ASIC et d'autres dispositifs de circuits intégrés. ELECTROGLAS 3100X dispose d'un positionneur de plaquettes qui permet un positionnement précis et reproductible des lots de plaquettes et un chargement fiable des plaquettes. L'outil supporte également l'éclairage avancé des plaquettes pour une visibilité optimale. En outre, 3100X intègre un logiciel puissant pour minimiser le bruit de photons, ce qui améliore la précision et la répétabilité lors des essais. De plus, l'actif supporte le contact de sonde basse pression, assurant le maintien des petites forces de contact de sonde. Ceci minimise les effets de l'hystérésis diélectrique et maximise la durée de vie du contact. Cela permet des essais reproductibles et précis de tous les types de dispositifs semi-conducteurs. Le modèle fournit également un haut débit et des tests de haute précision, grâce à son module intégré de contrôle de mouvement et à son équipement de détection de plaquettes à haute résolution. ELECTROGLAS 3100X dispose d'une zone de sondage étendue pour le fonctionnement sur de grands lots de plaquettes. Le système offre également une acquisition de données fiable pour tous les types de test de plaquettes. En outre, 3100X fournit des wafer avancés et des diagnostics IC pour améliorer la qualité du produit. Enfin, ELECTROGLAS 3100X est soutenu par des systèmes de métrologie électrochimique et MEMS pour des tests complets de wafer et IC. Avec sa grande précision et sa vitesse supérieure, 3100X est idéal pour examiner des dispositifs semi-conducteurs complexes pour le développement, les essais et la production.