Occasion ELECTROGLAS EDS #9316793 à vendre en France

ELECTROGLAS EDS prober est un appareil de haute précision très avancé utilisé pour mesurer et diagnostiquer les dispositifs semi-conducteurs. Cet équipement semi-automatisé est conçu pour augmenter la vitesse et la précision des mesures des paramètres critiques du dispositif. Il mesure un large éventail de types de dispositifs, y compris les dispositifs CMOS et bipolaires, en se concentrant sur des domaines tels que la capacité de jonction, la capacité-tension, la transconductance et la résistance de surface. Le système se compose d'un certain nombre de composants interdépendants, dont le contrôle de la machine, l'unité d'essai et l'acquisition de données. La commande de la machine permet à l'opérateur d'effectuer des mesures et des étalonnages, de contrôler le mouvement du bras prober et de la table X-Y, et de s'assurer que le dispositif est correctement positionné et maintenu fermement. La machine d'essai est chargée de fournir la polarisation électrique et les signaux de mesure, et l'acquisition de données est utilisée pour traiter les résultats et les stocker en mémoire. EDS prober profite de capacités de balayage avancées pour améliorer la précision des mesures, ainsi que pour permettre l'optimisation du processus de sonde de l'appareil. Pour ce faire, on utilise un moteur et un asservissement précis pour scanner et mesurer l'appareil à de nombreux points différents de sa surface. Ce processus de numérisation permet à l'outil de repérer rapidement et précisément les points hors spécification, accélérant le processus de débogage de l'appareil. Cet actif est conçu pour fonctionner en salle blanche ; les murs et le plancher sont revêtus d'une isolation réglable afin d'assurer un bruit électrique minimal. Le prober lui-même est spécifiquement conçu pour réduire les interférences électrostatiques, fournissant des résultats très précis. Dans l'ensemble, ELECTROGLAS EDS prober est un outil robuste et fiable pour les essais de dispositifs semi-conducteurs. Il fournit des résultats de haute précision, avec un balayage prudent pour la précision et la fiabilité, et une protection intégrée contre les interférences électrostatiques. Avec ses différents composants, il est bien adapté pour identifier rapidement et avec précision la source de toute défaillance du dispositif. Il est clair que ce prober est un excellent choix pour toutes les exigences d'essai des dispositifs semi-conducteurs.