Occasion ELECTROGLAS / EG 2001CX #9260446 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001CX
ID: 9260446
Style Vintage: 1995
Prober Microscope arm OLYMPUS Low power scope Chuck type: Gold chuck top, 6" Ring carrier type: Rectangular probe card holder without holder Vision module type: COGNEX Auto align-PRM 2 Auto align: CCD Camera Table type: PT-201 High boy table Hot chuck Monitor type: LCD Operator console Monitor console Inker / Edge sensor box NCES Profiler Material handling 1995 vintage.
ELECTROGLAS/EG 2001CX est un distributeur de plaquettes commandé par ordinateur conçu pour inspecter et tester des appareils électroniques et photoniques de haute précision grâce à des opérations de sondes. Il a une base à base de céramique et un design ouvert pour une accessibilité maximale. L'équipement supporte l'utilisation de plusieurs configurations de tête et dispose d'une planche d'étalonnage de 30 positions pour maximiser la flexibilité pour la manipulation des tests. La base prober est conçue pour se déplacer et basculer pour accueillir différents types de dispositifs d'essai. Cela permet d'accéder à des appareils de test plus grands, jusqu'à 2450 x 1150mm, avec différents niveaux de hauteur. Il dispose également d'une plage d'inclinaison réglable de + 5 ° à -20 ° pour accueillir de plus grands appareils. En outre, le 2001CDX dispose d'un écran tactile avec une interface utilisateur graphique et un système de positionnement linéaire avec une plage de +/- 50mm. Ceci fournit une gamme de mouvements de grande précision sur les axes x, y et z. L'unité est capable de manipuler des plaquettes qui mesurent jusqu'à 300mm de diamètre. Il dispose d'une machine de chargement automatisé des plaquettes, qui permet l'alignement automatique, le déchargement, et la sonde arrière des plaquettes. Cet outil offre également un mode « enseigner », qui permet aux utilisateurs de personnaliser l'actif en fonction de leurs besoins de production spécifiques. Le 2001CDX dispose également d'un modèle de centrage optique avancé qui offre des schémas de centrage hors centre avec une gamme de 0.1mm à 1mm. Le 2001CDX est équipé de la technologie Wafer Manager I/O (WMIO) pour la planification et le suivi automatisés des wafers. Cette technologie offre un équipement en ligne d'interactions d'inventaire, d'historique et de contrôle de processus. Ce système offre également un accès sécurisé au contrôleur d'unité et comprend un site Web intégré pour les opérations à distance via le navigateur Web. Le prober est capable de configurations multi-têtes, qui comprennent deux têtes pour la sonde de bord, une tête pour la sonde traversante, une tête pour la sonde de contact électrique, une tête pour la micropositionnement, et quelques autres fonctions spécialisées. La machine peut également accueillir une variété d'accessoires de test, tels que l'optique, les étages de micropositionnement, les systèmes d'acquisition de données à grande vitesse et les sondes personnalisées. L'outil 2001CDX supporte plusieurs tours de manutention de plaquettes, ce qui offre une flexibilité pour la manutention simultanée de plusieurs plaquettes. Une seule tour de manutention de plaquettes positionnée à la main ou automatisée peut être utilisée avec l'actif pour accueillir jusqu'à quatre lots de plaquettes pour les essais. Le modèle comprend également une station de conception et de diagnostic de la carte de sonde, fournissant plusieurs voies de signal de test pour un environnement de test amélioré.
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