Occasion ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9155108 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001CXE
ID: 9155108
Prober Table: High Operating system: Prober vision.FA Ring carrier: RC-2 Profiler: Piston Microscope: Olympus 99 Chuck top: 6" Gold - hot Align camera: cohu - black Z Stage: PZ-250 (0.25-mil) DAR Resolution: High (DAR-IV) Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-3 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001CXE est un équipement de sonde conçu pour la sonde à semi-conducteurs haute performance. Il offre des tests complets de contact de plaquettes des appareils IC de 0,6 mm de hauteur CSP à 44 mil Fine-pitch Ball Grid Arrays. Ce système est capable de mesurer jusqu'à 4 appareils numériques, 2 appareils analogiques ou 1 appareil de puissance sur des plaquettes de 150mm, 200mm ou 300mm. L'unité est très compatible avec les cartes de sonde standard, permettant l'utilisation de Mini-CardMC à moindre coût et d'assemblages de contacteurs de grande surface. La machine utilise un outil de manipulation avancé qui assure un positionnement précis des plaquettes et fournit un haut degré de précision de contrôle de mouvement. L'outil de commande de mouvement est capable de mouvements X-Y à grande vitesse des plaquettes ainsi que de mouvements en Z très précis pilotés par piézoélectronique. Il comporte également des étalonnages à 4 axes et des corrections pour les désalignements complexes des plaquettes. Le modèle offre une multitude d'options qui permettent aux utilisateurs de personnaliser et de peaufiner leur environnement de test. Il comprend un équipement d'arrêt des plaquettes pour fournir une position précise et cohérente des plaquettes et un palier à air pour le contrôle de la température des plaquettes. Il comprend également un prééchantillonneur de plaquettes à grande vitesse qui contrôle précisément les temps de chargement des échantillons pour améliorer le débit et l'optimisation des processus. De plus, le système offre un dispositif de contrôle de position en option pour éviter les surtrajets et les dommages. EG 2001CXE offre également une variété d'options logicielles adaptées à l'environnement de test spécifique de l'utilisateur. Il comprend une interface utilisateur graphique (interface graphique) pour fournir un contrôle complet sur l'unité et une machine d'importation CAO intégrée pour permettre la configuration et l'analyse des données de test. En outre, l'outil fournit des capacités d'acquisition de données haut de gamme avec l'actif d'acquisition de données de la série Reflection, fournissant des délais plus rapides pour les essais et l'analyse de données. Le modèle est entièrement conforme aux normes de l'industrie, y compris les normes SEMI, et dispose de longs cycles de vie des produits pour une fiabilité accrue. L'équipement est conçu avec la durabilité à l'esprit avec une armoire renforcée et des composants mécaniques durables. Il présente également de faibles niveaux de vibration, une stabilité de température et un séchage à température variable. En conclusion, ELECTROGLAS 2001 CXE est un prober haute vitesse très avancé conçu pour l'essai complet de contact de plaquettes des appareils IC. Il offre un certain nombre de fonctionnalités et d'options uniques aux utilisateurs pour personnaliser et peaufiner leur environnement de test et est entièrement conforme aux normes de l'industrie pour une fiabilité accrue.
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