Occasion ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9208363 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001CXE
ID: 9208363
Wafer prober.
ELECTROGLAS/EG 2001CXE est un équipement prober complet. C'est un outil utilisé dans la fabrication de semi-conducteurs, la caractérisation des dispositifs, ainsi que la recherche et le développement. Il est bien adapté à la recherche de plaquettes, aux essais de haute précision et à l'acquisition de données. Le système est une architecture entièrement intégrée, qui permet de sonder à grande vitesse, commutation rapide, temps de séjour long, et des performances de bas niveau supérieures. L'unité est conçue pour avoir une faible empreinte et offre une flexibilité pour un large éventail d'applications. La machine est conçue pour la détection à grande vitesse et offre une excellente précision, répétabilité et haut débit pour les essais de plaquettes. EG 2001CXE est conçu avec une architecture propriétaire de sonde CXE. Il dispose d'un grand nombre de commutateurs configurables, y compris le séquençage automatique programmable, des canaux largement espacés pour une précision supérieure, et un générateur d'impulsions à grande vitesse. L'outil intègre un atout d'entraînement avancé, incluant un étage linéaire à trois axes entraîné et une pince à vide intégrale. Le modèle est complété par l'équipement laser optique intégré qui permet l'alignement de la sonde sans contact. Le prober est conçu pour fournir une large gamme de capacités de conditionnement et de mesure électriques, permettant une acquisition de données efficace. Cela inclut les entrées/sorties numériques, USB, IEEE-488 GPIB, ECL/TTL et PLC/Machine Control. Il fournit également de nombreuses interfaces standard et personnalisées pour contrôler les opérations de mesure basées sur les événements. ELECTROGLAS 2001 CXE comprend également un moteur avancé d'acquisition et de contrôle de données. Cela comprend un instrument virtuel basé sur un logiciel, permettant aux utilisateurs de configurer graphiquement, contrôler et surveiller leurs configurations de test, ainsi que de permettre des fonctionnalités avancées telles que l'analyse de données en temps réel, la gestion complète des données et le contrôle des processus statistiques. 2001CXE est un prober fiable, flexible, adapté aux applications exigeantes des procédés semi-conducteurs avancés. Il offre des performances et une précision supérieures pour le test des plaquettes, l'acquisition de données et la caractérisation des appareils. Il est conçu pour améliorer le débit et réduire les coûts, tout en offrant aux utilisateurs la flexibilité nécessaire pour modifier et configurer leurs configurations de test.
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