Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #293604675 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001X
ID: 293604675
Taille de la plaquette: 8"
Prober, 8".
ELECTROGLAS/EG 2001X prober est un instrument de test de plaquettes haut de gamme conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de sonder, d'inspecter et d'effectuer des diagnostics sur une grande variété de types de plaquettes, dont le silicium, l'arséniure de gallium et le SOI. Le prober dispose d'un équipement automatisé de chargement de pales, avec jusqu'à dix pales chargées sur le porte-plaquettes simultanément. Ce système minimise le temps nécessaire pour placer la plaquette sur le prober et permet une interruption minimale pendant les opérations individuelles de la sonde. La faible accélération et la faible vibration du cadre de la machine évite les dommages aux dispositifs délicats et réduit le décalage de position. EG 2001 X utilise une unité de mouvement à neuf axes, capable de fournir des profils de mouvement et des vitesses de haute précision, jusqu'à des vitesses de 300 mm/s. Le prober a également la capacité de négocier le terrain avec un ascenseur à axe Z, ce qui diminue le temps de chargement des plaquettes, en plus de fournir un emplacement plus précis des plaquettes. La machine optique commerciale permet de contrôler l'alignement de chacune des aiguilles par l'utilisateur, ainsi que d'assurer une connexion électrique réglable pour chaque aiguille. Ceci assure une connexion précise et fiable aux plots de test des composants électroniques. Le prober offre une variété de capacités de calibration, y compris le décalage d'alignement et le calibrage de pointe d'aiguille, ainsi que la possibilité de synchroniser plusieurs canaux de sondes simultanément. Des capacités d'agrandissement variables permettent à l'utilisateur de visualiser et de surveiller avec précision l'alignement du dispositif, avec des rapports signal à bruit augmentés pour améliorer les performances du prober. Le prober est équipé de différentes fonctionnalités de connectivité et de transfert de données, telles que GPIB, Ethernet et SVGAM offrant des transferts de données à grande vitesse et une compatibilité maximale avec les systèmes de contrôle de fabrication des semi-conducteurs. De plus, ELECTROGLAS EG2001X dispose également de fonctions de sauvegarde de programmes et de données, qui permettent à l'utilisateur de récupérer en toute sécurité toutes les données de test, même après une coupure de courant. La gamme complète de capacités de test, ainsi que les fonctionnalités avancées de mouvement et de connectivité, font d'ELECTROGLAS/EG 2001 X prober un outil essentiel pour des tests efficaces de dispositifs semi-conducteurs.
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