Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #293606276 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001X
ID: 293606276
Prober.
ELECTROGLAS/EG 2001X est un prober avancé conçu pour être utilisé dans l'analyse de la fiabilité et de la défaillance des dispositifs semi-conducteurs. Il est capable d'intégrer des solutions de sondes avancées pour le repérage et l'évaluation des défauts du dispositif dans le détail topographique. Le prober se compose d'un boîtier en acier inoxydable avec une tourelle de sélection rotative montée sur le dessus, un système de vide et plusieurs pièces d'accouplement. La tourelle de sélection rotative abrite deux porte-plaquettes armés de 8, deux sondes micromanipulatables et un probère de référence micromanipulatable. Les supports de plaquettes permettent au prober de fixer des plaquettes de différentes tailles et des motifs symétriques en un seul mouvement. Le prober utilise un système sophistiqué de vide à boucle fermée ainsi qu'une série de capteurs de rétroaction de position et de LED IR pour assurer un alignement précis et sans erreur et une connexion sécurisée des sondes au dispositif testé. Le système est conçu pour assurer une connexion fiable avec un très faible transfert thermique entre les sondes et le dispositif, assurant des mesures électriques précises même à des densités de puissance élevées. Le prober dispose d'une interface utilisateur intuitive et tactile pour rendre la configuration du processus et la collecte de données rapides et faciles. En permettant à l'opérateur de contrôler les têtes motorisées et les têtes de prober individuelles, les opérateurs ont la capacité de personnaliser la capacité et la vitesse. La machine offre également une variété d'outils d'analyse et d'ingénierie pour des utilisateurs plus avancés, tels que la correction géométrique automatisée, l'imagerie par microscopie à force atomique, et le diagnostic électrique de pointe pour la caractérisation des appareils et l'analyse des défauts. EG 2001 X est un outil puissant et précis pour l'analyse de la fiabilité et de la défaillance des dispositifs semi-conducteurs. Son flux de travail intuitif, sa conception robuste et ses solutions avancées de prober intégrées permettent aux utilisateurs d'identifier rapidement les défauts des appareils et d'optimiser leurs conceptions pour minimiser les défaillances et améliorer la fiabilité.
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