Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #293620735 à vendre en France

ELECTROGLAS/EG 2001X est un prober conçu pour les essais électriques de haute précision des dispositifs semi-conducteurs. Il est utilisé principalement pour sonder, mesurer et diagnostiquer des dispositifs semi-conducteurs aux niveaux des plaquettes et des dispositifs. Sa conception unique permet son utilisation dans des applications de test de haute précision, y compris le dépôt, la lithographie, l'enlèvement et l'essai de dispositifs semi-conducteurs. EG 2001 X utilise une large gamme de têtes de sonde et de plaquettes, y compris la céramique, le silicium, l'alumine, le nitrure de silicium, l'or et plus encore. Le prober est conçu pour fournir une force de sonde allant de 0 à 35 grammes, et une vitesse de sonde jusqu'à 800 mm/s. Le probère est capable de déterminer la résistance de contact et les caractéristiques courant/tension sur une plage de température de -65 ° C à + 200 ° C En outre, ELECTROGLAS EG2001X dispose d'une gamme d'outils et de processus pour maximiser la précision et la rapidité des tests des appareils. Il utilise des systèmes automatisés de reconnaissance et d'alignement des plaquettes pour s'assurer que la plaquette correcte est insérée et que le bon emplacement est vérifié. En outre, il dispose d'un ensemble complet de commandes Z pour personnaliser le séquençage de la sonde et le contrôle du gain. Le prober peut également contenir jusqu'à 2000 plaquettes, avec une taille maximale de 150 mm. Il est équipé d'une interface utilisateur graphique (interface graphique) et d'une interface de communication pour l'accès à distance. Il comprend un processeur de signal numérique embarqué (DSP) pour le traitement du signal numérique, l'acquisition de données et l'enregistrement. En outre, le prober dispose d'une technologie de mémoire avancée qui permet de stocker et de transférer des données de test, ainsi que d'un système de sécurité complet pour les transferts de données sécurisés. 2001 X est un prober fiable et précis conçu pour répondre aux besoins exigeants des essais de dispositifs semi-conducteurs. Son large éventail de caractéristiques, d'outils et de processus en font un choix idéal pour des applications de test avancées, ainsi que des mesures et des diagnostics de haute précision.