Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #9155072 à vendre en France
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ID: 9155072
Prober
Table: High
Operating system: Prober vision,DA (Disk)
Ring carrier: RC-2
Profiler: piston
Microscope: Olympus SZ-30
Chuck top: 6 Inch gold-ambient
Align camera: Cohu-zoom
Z Stage: PZ-150, 0.5-mil
DAR Resolution: Low
Handler type: 6 Inch belt track
Vision module: Cognex PRM-2
Power requirement: 220 Vac
Air requirement: 80 psi
Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober est un équipement de test automatisé parallèle haute performance qui est conçu pour les opérations de prodding et de sondes de plaquettes semi-conductrices. C'est un outil fiable et rentable, conçu pour gérer un large éventail de tâches de prodding, y compris le test de la sonde de wafer et la surveillance paramétrique. EG 2001 X est parfait pour les technologies semi-conductrices haute performance de dernière génération. Le prober offre une capacité de balayage avancée, un contrôle de mouvement complet, un prodding flexible et un contrôle de mouvement adaptatif. Il est équipé d'une interface de contrôle avec interface utilisateur graphique intuitive (UI), une large gamme d'options de prober, et une opération entièrement automatisée. La fonction de contrôle du mouvement du système permet de l'utiliser dans diverses applications de sondes, depuis le test automatique des plaquettes empilées jusqu'aux capacités de pénétration des broches moyennes et des sondes 3-C. La commande de mouvement est également capable de fournir des positions précises et répétables à la fois de la force de la sonde et du téton de la plaquette. ELECTROGLAS EG2001X Les fonctions de balayage de Prober peuvent être personnalisées en fonction des besoins individuels et comprennent des fonctions de balayage multi-étapes, de balayage perpendiculaire et de balayage en rake. De plus, il offre des fonctions d'étalonnage électrique intégrées pour une précision accrue. L'unité est équipée d'une précision de prober accélérée de 4 microns, et peut être utilisée pour différents types de dispositifs IC et optoélectroniques. La conception sophistiquée de la machine offre plusieurs autres fonctionnalités telles que le support auto-nivellement, la trace et la correction automatique des puces, la détection de pile définie par l'utilisateur, l'analyse de signaux haute vitesse et de courant continu, et un ensemble de ports externes facilement accessibles pour contrôler plusieurs fonctions. 2001X Prober dispose également d'une configuration d'outil extrêmement efficace, permettant à l'utilisateur de configurer l'actif avec une efficacité maximale pour chaque application. En outre, le prober est également équipé d'un modèle de retravaillement intégré et performant pour la réparation et le retravaillement des CI défectueux. En outre, l'équipement offre des fonctions d'entretien professionnel, de surveillance des données, d'imagerie et d'impression pour l'acquisition et l'analyse de données pratiques et efficaces. Le Prober ELECTROGLAS 2001X efficace et fiable est un outil de test polyvalent et économique pour la dernière génération de technologies de semi-conducteurs. Ses caractéristiques et fonctions complètes en font un atout précieux pour les fabricants de semi-conducteurs.
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