Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #9155120 à vendre en France

ELECTROGLAS / EG 2001X
Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001X
ID: 9155120
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-1 Profiler: Piston Microscope: Olympus 99 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Cohu - zoom Z Stage: PZ-150, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober fournit un ensemble complet de capacités de test et de sondes micro-électroniques. Ce système offre un fonctionnement et une configuration de grande valeur, permettant une caractérisation complète et des essais complexes sur des IC délicats pour obtenir une analyse précise des défaillances. EG 2001 X Prober est conçu pour maximiser le retour sur investissement. Il maximise la vitesse et la précision tout en suivant les changements rapides de la technologie. Le prober améliore la convivialité et la fiabilité avec un contrôle logiciel complet, une interface utilisateur graphique intuitive et une conception ergonomique. Le contrôleur in-huck puissant minimise la diaphonie du signal tout en fonctionnant à partir d'une seule connexion. Il dispose d'un contrôle précis du mouvement d'asservissement pour assurer un positionnement précis de la pointe et un contact entre la sonde et la flamme. Les deux sondes TPI 50 et 100 sont supportées, avec une protection de pointe améliorée pour prolonger la durée de vie pendant des années de fonctionnement fiable. Équipé de 20 canaux, le prober supporte une variété de tests utilisant TestJet, TLA, sondes fixes et mobiles, WaferJet, et des ondes sinusoïdales personnalisées. En outre, ELECTROGLAS EG2001X offre une amplification de sonde 50Ghz avec une grande précision, des mesures à grande vitesse et des capacités de datalogging. Les fonctions de saisie et d'analyse des données permettent l'optimisation dynamique des processus. Les fonctions de synchronisation avancées permettent des tests rapides de boucle et d'étape. Le canal d'acquisition de données à grande vitesse du diffuseur peut capter des signaux rapides et lents. Le tableau d'analyse fournit un diagnostic détaillé des noeuds sondes, des tests de courant et de tension, de la surveillance de la forme d'onde et de la mesure des paramètres AC/DC. ELECTROGLAS 2001X Prober fournit des capacités de test multi-sites comprenant des broches de synchronisation personnalisées, le balayage des impulsions de rafales, des tests personnalisés et la reconnaissance automatique des numéros. Le prober comporte également des fonctions d'analyse complètes, notamment des histogrammes, des tests statistiques, une cartographie automatisée des vecteurs et un calendrier de cycle/programme. Les protocoles et l'automatisation sont améliorés avec le programmateur intégré. Il prend en charge les formats de communication JEDEC, Silicon Connector, TLA3000 et WaferJet afin de maximiser la couverture des tests. 2001X Prober fournit une programmation automatisée des appareils et une plate-forme flexible pour l'isolement précis des défauts - le tout à un débit plus élevé.
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