Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #9155127 à vendre en France

ELECTROGLAS / EG 2001X
Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001X
ID: 9155127
Prober Table: High Operating system: Prober vision.CE (Eprom) Ring carrier: RC-1 Microscope: Olympus SZ-30 Chuck top: 6 Inch gold-ambient Align camera: Sony CCD Z Stage: PZ-5, 0.5-mil DAR Resolution: Low Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-2 Power requirement: 115 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001X est une plaque de haute précision entièrement automatisée conçue pour le test des puces et de la filière en silicium. Il utilise une plaque de base suspendue entre deux étages linéaires, chacun entraíné indépendamment avec un système automatisé. Cela permet au prober de positionner avec précision une sonde en forme d'aiguille avec une précision de pointage à travers la surface de la plaquette aux paramètres de sonde spécifiés. Les étages linéaires ont des commandes de dépassement pour assurer un dépassement manuel des opérations automatisées. Le prober est équipé d'un écran vidéo et peut être programmé pour fournir des tests et des sondages automatisés personnalisés. Il dispose d'une caméra montée sur la plaque de base afin de reconnaître et d'identifier automatiquement les puces et de mourir sur une plaquette, économisant ainsi du temps aux tâches d'alignement manuel. Le prober dispose d'un zoom manuel et automatisé qui permet d'obtenir des vues de haut grossissement de certaines parties de la plaquette. En outre, son logiciel piloté par ordinateur et facile à utiliser est conçu pour la première fois et les opérateurs expérimentés et permet de mettre en place, contrôler et surveiller ses opérations. EG 2001 X est fabriqué avec les derniers composants robustes et l'ingénierie pour assurer la fiabilité et la performance. Il est conçu pour accueillir une variété de systèmes de sondes et de puces, et est conçu pour répondre à une vaste gamme de tâches de semi-conducteurs telles que tester des circuits intégrés, effectuer la caractérisation au niveau des plaquettes et sonder des modules multi-puces. Le prober est équipé de mesures de sécurité, y compris d'un mécanisme de protection contre les dommages accidentels causés par des chocs ou des vibrations. De plus, les niveaux de bruit sont suffisamment faibles pour le fonctionnement des travailleurs humains. De plus, l'option HIGH/LOW offre la flexibilité d'une configuration de prober à un étage tout en conservant la plus grande précision de sondage, afin de garantir des résultats de sondage uniformes. Dans l'ensemble, ELECTROGLAS EG2001X prober garantit la résolution et la précision les plus élevées pour la manipulation des plaquettes et les opérations de sonde. Il est idéal pour la fabrication à haut volume (HVM), car il fournit des tests de wafer haute vitesse pour la production par lots. En outre, ce prober robuste et sophistiqué est à la portée d'un large éventail de budgets.
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