Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #9171218 à vendre en France

ELECTROGLAS/EG 2001X est un prober à base d'ATE utilisé pour la recherche de plaquettes. Ce prober a été introduit à la fin des années 1990 et est encore couramment utilisé dans la production de semi-conducteurs aujourd'hui. Il s'agit d'un système ATE avancé, fiable et hautement productif conçu pour la recherche au niveau des plaquettes et des plaquettes. Ce système offre de nombreuses capacités pour aider les ingénieurs à augmenter leur débit et leur rendement tout en réduisant les temps d'arrêt et les coûts de retraitement. Il est conçu pour être compact, intégrant la plaquette et la station de sonde dans un seul cadre, ce qui permet d'économiser de l'espace au sol. EG 2001 X dispose d'une gamme de capacités intégrées puissantes, y compris un MEMS, interféromètre laser et ColorView. Le MEMS offre une grande précision et répétabilité, tandis que l'interféromètre laser offre une grande vitesse et précision pour les opérations de balayage. La visionneuse affiche une image en direct de la plaquette et fournit une couleur exacte sur une base pixel par pixel. ELECTROGLAS EG2001X offre également une large gamme d'options configurables, y compris le mouvement XYZ programmable, divers choix de manipulation/présentation des plaquettes, une variété de têtes de sonde pour les applications à pas fin, ainsi que des pinces de contact actives pour les petites mesures de signal. De plus, la sonde est facilitée par des mécanismes automatiques d'alignement de la filière et de la filière, ainsi que par des outils d'étalonnage, d'exploitation et d'analyse. En plus des capacités avancées, 2001X dispose d'une interface utilisateur intuitive pour la configuration rapide des tests. Il offre également un temps de test rapide, avec l'intégration de programmes de test automatisés, une connexion précise et répétable à une grande variété de sondes et l'enregistrement de données à long terme pour le débit maximal du système. 2001 X est conçu pour répondre aux exigences des environnements modernes de production et d'essai de semi-conducteurs. Il fournit une solution fiable et rentable pour sonder et tester diverses plaquettes, permettant aux ingénieurs d'identifier et de résoudre rapidement les problèmes rencontrés au cours du processus de production.