Occasion ELECTROGLAS / EG 2001X #9194747 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
2001X
ID: 9194747
Taille de la plaquette: 6"
Manual wafer probers, 6".
ELECTROGLAS/EG 2001X Prober est une station commerciale de détection de plaquettes fabriquée par EG et conçue pour le test de plaquettes semi-conductrices. Il est idéal pour une utilisation en ligne de production et en laboratoire, car il est capable d'effectuer des tâches de balayage et de test de haute précision rapidement et avec précision. EG 2001 X Prober a plusieurs caractéristiques clés qui en font un choix idéal pour les essais de semi-conducteurs. Il est équipé d'un équipement 3 axes avancé, qui permet la reconnaissance des motifs de précision et le contrôle automatisé. Ce système est combiné avec des noeuds de sondes couplés à 200 broches, permettant de tester plusieurs broches simultanément avec une grande précision. La plate-forme comprend également un chargeur d'échantillons 3 axes automatisé, qui offre un alignement rapide et précis avec les échantillons, et un microscope haute résolution qui fournit des vues rapprochées des plaquettes en cours de test. ELECTROGLAS EG2001X Prober est capable de tester un large éventail de matériaux semi-conducteurs, y compris l'aluminium, le silicium, l'arséniure de gallium, et d'autres. Il peut traiter une taille de plaquette maximale de 12 "et a un nombre maximum de broches de 120 par site d'essai. L'unité est également capable d'effectuer plusieurs tests en parallèle, afin de réduire le temps d'exécution. Il a également la capacité de stocker les modèles de test, et a un générateur de timing intégré et un journal de bord qui peut être utilisé pour stocker l'information de test. Cette station commerciale est équipée d'une interface utilisateur graphique (interface graphique) intuitive et facile à utiliser, qui permet une programmation et une configuration rapides. Il est également capable de fournir un accès en temps réel aux informations de test, qui sont représentées graphiquement et numériquement. Cela permet un dépannage rapide et des tests de produit efficaces. Dans l'ensemble, 2001 X Prober est un excellent choix pour le contrôle précis et précis des plaquettes semi-conductrices. Sa machine à 3 axes offre une reconnaissance de motifs supérieure et un contrôle automatisé, tandis que ses noeuds de sondes couplés à 200 broches rendent les tests parallèles rapides et faciles. La fonctionnalité intégrée permet également de stocker facilement les modèles de test et d'accéder aux informations de test, et son interface graphique intuitive fait de la configuration et de la programmation une brise.
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