Occasion ELECTROGLAS / EG 4085 #293808892 à vendre en France

ELECTROGLAS/EG 4085 est un produit fabriqué par EG Corporation. Il s'agit d'un probère bidimensionnel de haute précision utilisé pour tester des circuits intégrés (IC). L'équipement peut fonctionner en mode manuel et entièrement automatisé et est capable de sonder des puces jusqu'à 7,5 mm par 7,5 mm de taille. Les composants de base du système comprennent un scanner, une tête thermique et une unité de manutention automatique des plaquettes. Le scanner est un scanner linéaire, entraîné par des moteurs linéaires X et Y très précis. Il est conçu pour offrir les meilleures performances en termes de précision, de vitesse et de résolution. Il peut être utilisé pour les tests de contact et sans contact, selon l'application. La résolution du scanner est inférieure à 1 micron. La tête thermique est conçue pour assurer un contrôle précis de la force de contact. Il s'agit d'une conception double pointe avec un contrôle de pression indépendant séparé à chaque pointe. La tête thermique travaille de concert avec le scanner pour assurer un alignement précis des pointes de la sonde de contact avec le dispositif testé. La machine de manutention automatique des plaquettes est conçue pour fournir un chargement et un déchargement fiables des plaquettes. Il est conçu pour être compatible avec une large gamme de plaquettes et de boîtiers. Il est capable de manipuler jusqu'à 10 plaquettes par lot, avec une taille maximale de plaquette de 300mm. L'outil intègre également des fonctionnalités logicielles avancées qui permettent un développement et un fonctionnement efficaces du programme de test. Il prend en charge diverses stratégies d'essai telles que les mesures à haute et basse température, les essais multicanaux de précision, les essais à vitesse et l'analyse des défauts. Il est également compatible avec les modalités standard de contrôle d'interface DUT telles que GPIB, Ethernet et Serial/RS-232. EG 4085 est un atout polyvalent et fiable qui permet de tester les IC les plus complexes. Il est idéal pour des applications telles que la caractérisation des semi-conducteurs et des appareils, l'analyse des défaillances, l'ingénierie des appareils, les essais de production à haut volume et l'optimisation des performances des modèles.