Occasion ELECTROGLAS / EG 4090 #293606421 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
4090
ID: 293606421
Taille de la plaquette: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8" OCR Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090 Prober est une plaquette polyvalente utilisée pour tester et caractériser des applications. Il offre un large éventail de capacités et de performances dans les applications de test des semi-conducteurs, optoélectroniques et autres dispositifs semi-conducteurs. Il dispose d'une conception modulaire qui permet des configurations flexibles pour répondre aux besoins spécifiques des clients. Le prober est utilisé pour mesurer les caractéristiques électriques et optiques des dispositifs semi-conducteurs emballés, ainsi que des circuits intégrés autonomes (IC) et des composants. Il a un débit élevé, ce qui le rend adapté pour les tests et les sondages automatisés de plaquettes. Le prober est équipé d'un équipement de contrôle de mouvement en boucle fermée, qui permet des tests rapides et répétables. Le système EG 4090 est équipé d'une console d'opérateur qui fournit une interface utilisateur graphique pour le fonctionnement. Cette console permet une communication directe avec le prober et son unité de mesure intégrée. Cette machine dispose d'une capacité intégrée de traitement du signal, permettant une manipulation en temps réel des données de test. L'interface utilisateur complète du prober permet des paramètres de contrôle en temps réel, tels que le mouvement des plaquettes et la vitesse de test. Le prober supporte une large gamme de sondes de contact, telles que collage et thermocouples. Il est conçu pour être granulaire, ce qui lui permet de mesurer de très petits signaux. Le prober est également équipé d'un outil de mandrin automatique, qui permet une exploration plus rapide. L'actif du mandrin et de la roue peut générer des lectures allant jusqu'à 1 millimètre. En outre, ELECTROGLAS EG4090 fournit plusieurs algorithmes de test, tels que des tests de réponse paramétriques et haute fréquence. Il est capable d'effectuer des tests dans toutes les zones actives du CI, ce qui permet de s'assurer que le dispositif est testé dans toutes les zones, par opposition à quelques points seulement. EG EG4090 soutient un certain nombre de fonctions d'analyse de post-épreuve, aussi bien qu'une analyse statistique détaillée. Le prober est équipé d'une large gamme de langages de programmation et de contrôle, permettant un développement facile du programme. ELECTROGLAS/EG EG4090 prober est conçu pour être très fiable et a une longue espérance de vie. Le modèle a passé de nombreux tests de fiabilité, le rendant apte à une utilisation permanente dans des applications de test à semi-conducteurs exigeantes. La construction durable du prober garantit que tous les composants restent fonctionnels au fil du temps. En outre, EG4090 est équipé d'un équipement de mesure évolutif, permettant à l'utilisateur d'étendre ses capacités pour répondre aux besoins évolutifs du client.
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