Occasion ELECTROGLAS / EG 4090 #293606517 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
4090
ID: 293606517
Taille de la plaquette: 6"-8"
Prober, 6"-8" Standard chuck Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090 est un prober de pointe conçu pour faciliter le test automatisé des plaquettes semi-conductrices. Cette machine fait partie de la famille EG 40xx, qui est optimisée pour la précision et la vitesse, avec la capacité de tester plusieurs plaquettes en une seule passe. Les composantes de l'EG 4090 comprennent les étages x et y, l'axe z et le réglage dynamique des données. Les étages x et y sont entraînés par des moteurs AC Servo solides et performants, offrant 2,5 μ m de résolution de positionnement. L'axe z est entraîné par un moteur DC Servo, offrant 0,25 μ m de précision de positionnement empilé. La combinaison de précision et de vitesse fait d'ELECTROGLAS EG4090 un puissant prober pour soutenir les exigences croissantes des procédés de fabrication de semi-conducteurs. La tête de sonde est régie par un algorithme propriétaire d'ajustement dynamique des données, qui renforce la résolution et la précision globales d'ELECTROGLAS 4090. Son système sophistiqué de suivi du profil permet d'identifier et d'analyser en permanence les caractéristiques de la surface, tandis que l'unité de stabilisation de la pression verticale fournit une pression de vol constante sur les mouvements de grands axes Z. Un certain nombre de caractéristiques supplémentaires font d'ELECTROGLAS/EG EG4090 un prober exceptionnel, comme sa grande surface de travail de 30 mm dans les axes X et Y, et 300mm dans l'axe Z, l'écran LCD monochrome de 5,7 pouces, et sa machine intégrée de détection de défaut qui fournit un moniteur en temps réel de l'état de la tête de sonde et de l'outil. EG EG4090 est également intégré avec un logiciel puissant pour supporter ses fonctions de test. Parmi les paquets inclus, mentionnons les systèmes d'exploitation de la sonde, la configuration de la sonde pour définir des cartes de wafer, la cartographie automatique des wafer, Probe Data Viewer pour une visualisation facile des données en temps réel, et un paquet de test de fuite/C-V. La combinaison globale de matériel et de logiciel fait de EG4090 un outil puissant et polyvalent de prober optimisé pour tester les technologies semi-conductrices de minéralisation latestminiaturisation.
Il n'y a pas encore de critiques