Occasion ELECTROGLAS / EG 4090 #9070789 à vendre en France
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Vendu
ID: 9070789
Prober
Hot chuck Nickel
EG4090 base unit
Automatic PTPA / needle height aligment
Direct Probe Sensor II (DPS II)
Probe-to-Pad Optimization (PTPO)
Probe Mark Inspection (PMI)
Ink Dot Inspection (IDI)
Wafer Stepping and Scaling Calibration (WSSC)
Automatic Probe Cleaning and Continuity Pad
Chuck Probe Contact Sensor II (CPCS II)
RS232C, TTL (parallel I/O), GPIB (IEEE-488)
EG Enhanced, RDP
Network Interfaces* Ethernet (10/100 Mbps)
Real time wafer map display
Group index
Multi-pass probing
Soak time
CE marked
Bump height setting
St 3 color signal tower
Service manipulator (tester supplier)
Head plate with Top load 9.5" (241mm RC2)
Software: EG Com ver 7
DOS computer
Z-Resolution: 0.25 mil.
ELECTROGLAS 4090 Prober est un équipement d'essai automatisé à semi-conducteur (ATE). Il est conçu pour la mesure à grande vitesse et le test électrique des dispositifs semi-conducteurs, intégrant la sonde sur plaquette, le tri des plaquettes et la caractérisation détaillée des dispositifs. Le prober dispose d'une table de positionnement XY intégrée avec une plage de 1 à 4 pouces, permettant un placement facile et précis de l'appareil ou de l'échantillon dans la position d'essai. En outre, le prober utilise un alignement électronique actif pour un positionnement rapide et précis de l'appareil, et une fonction Autoscan pour une plus grande précision d'alignement. 4090 Prober abrite quatre canaux de circuits de test analogiques et numériques, permettant des tests rapides, cohérents et fiables des entrées/sorties de wafer et des performances des appareils. Le prober comprend également un waferChuck, qui assure une protection automatisée des contacts et une isolation électrique mécanique entre le prober et le dispositif testé. ELECTROGLAS 4090 Prober dispose également d'une riche gamme d'outils de contrôle et d'analyse des processus. Cela inclut les fonctions Autoselect et Autograph, qui permettent la sélection automatique des appareils et l'affichage graphique des plaquettes tout en surveillant les paramètres de rendement, de tendance et de performance. Le prober contient également des fonctions intégrées d'analyse statistique qui permettent la corrélation des données et l'analyse de centaines de résultats de tests en quelques étapes seulement. En outre, 4090 Prober fournit une interface utilisateur graphique intuitive (UI). L'interface graphique permet aux utilisateurs d'apprendre rapidement les fonctionnalités et les commandes du prober et d'exécuter des tests rapidement et avec précision. Le prober offre également un large éventail de ressources et d'outils pour aider les utilisateurs à développer rapidement leurs propres programmes de sondes, et des scripts personnalisés peuvent être organisés dans les bibliothèques pour une réutilisation ultérieure. Dans l'ensemble, ELECTROGLAS 4090 Prober est un excellent outil de mesure à grande vitesse et de test électrique des dispositifs semi-conducteurs. Il intègre des capacités pratiques et précises de détection, de tri et de caractérisation des appareils, ainsi que des outils intuitifs de contrôle et d'analyse des processus. Le prober offre aux utilisateurs et aux ingénieurs une solution puissante et efficace pour tester rapidement et avec précision les dispositifs semi-conducteurs.
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