Occasion ELECTROGLAS / EG 4090u #293607269 à vendre en France

Fabricant
ELECTROGLAS / EG
Modèle
4090u
ID: 293607269
Prober.
ELECTROGLAS/EG 4090u est un équipement prober conçu pour le diagnostic de processus de balayage avancé et les tests électriques sur une variété de composants semi-conducteurs et optoélectroniques. Il fournit la norme de l'industrie pour la précision, la fiabilité et la répétabilité pour la détection de base aux tests de sortie complexes. Le système est capable de tester la filière semi-conductrice de 150 à 1500 milles en taille, avec jusqu'à 6 choix de tête de sonde. Sa conception permet un débit rapide allant jusqu'à 200 plaquettes par heure pour les essais en courant continu, en transition et en courant alternatif. La conception d'architecture ouverte d'EG 4090u permet une grande flexibilité, permettant aux ingénieurs de développer et d'intégrer des applications de plate-forme personnalisées, ainsi que d'intégrer et de contrôler des équipements externes. ELECTROGLAS 4090 U s'intègre à une gamme d'autres systèmes dont les systèmes ATG, EV, 4494SC et 4900SC. Il est entièrement automatisé, permettant aux ingénieurs de contrôler le prober depuis le logiciel ou l'interface externe. L'unité est livrée avec une variété de fonctionnalités et d'options, telles que, la fonctionnalité numérique 12 canaux DC zener, les outils d'optimisation des performances, et une variété de cartes de défauts de sortie. EG 4090 U dispose d'une carte de mémoire et de probecard embarquée avancée, offrant des connexions fiables et le stockage de données. Il dispose également d'une cellule de test intégrée et d'une machine d'éjection automatisée de tampon céramique. La conception multi-mise en page permet aux ingénieurs de configurer le prober pour répondre aux besoins spécifiques des clients. L'outil comprend également une variété de fonctions de sécurité intégrées, y compris l'étanchéité aux erreurs, le contrôle de la température et les routines d'autocontrôle. Une variété d'autres caractéristiques comprennent un générateur de rapports d'essai intégré, un moniteur intégré à l'écran avec des tâches de wafer, des sondes et des programmes de configuration, d'exploitation et d'installation de prober, ainsi que des capacités de surveillance et de maintenance à distance.
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