Occasion ELECTROGLAS / EG 4090u #9206268 à vendre en France

ELECTROGLAS/EG 4090u est un prober haut de gamme conçu pour le test et la sondes des semi-conducteurs. Il combine un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) et un prober automatique en une seule unité compacte. EG 4090u prober est équipé de six axes commandables et capable de tester des dispositifs jusqu'à 300mm de taille. Il a une vitesse de balayage allant jusqu'à 400 mm/s et est capable de balayer à des résolutions allant jusqu'à 5 μ m dans les directions planaire et verticale. Le corps léger du prober assure des processus de sondes rapides et contrôlés. Ce prober est idéal pour les tests spécialisés avec son système de contrôle automatisé intégré, permettant un contrôle facile et précis de l'outil. Il est également capable de tester la puce flip, le réseau à billes (BGA) et les dispositifs de paquets complexes. ELECTROGLAS 4090 U est également équipé d'un étage de réticule automatisé, capable de balayer les réticules rapidement et facilement sans sacrifier la précision. Le prober est équipé d'un système de chauffage efficace, permettant aux utilisateurs d'effectuer des essais à haute température jusqu'à 200 ° C Sa fonction de contrôle thermique de précision offre une excellente stabilité de la température, permettant aux utilisateurs d'effectuer des tests de haute qualité rapidement et avec précision. En outre, le prober est également compatible avec les systèmes de placement local par défaut (DLP) pour la localisation des défauts 3D de haute précision. Ses capacités avancées de traitement d'image permettent aux utilisateurs de détecter, classer et corriger rapidement et de manière fiable les défauts du circuit. EG 4090 U supporte également les échanges de données avec des périphériques externes tels que les systèmes CAO, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision les résultats des tests et de télécharger des données pour une analyse plus approfondie. Dans l'ensemble, 4090 U est un outil de haute performance conçu pour les essais et les sondages spécialisés de semi-conducteurs. Sa combinaison de microscopie électronique à balayage, de contrôle automatique de prober et de contrôle efficace de la température en font un excellent choix pour des tests de haute précision et de haute qualité.