Occasion ELECTROGLAS / EG 4090u #9282309 à vendre en France

ELECTROGLAS/EG 4090u prober est un équipement avancé de test de semi-conducteurs conçu pour tester rapidement et avec précision une grande variété de conceptions de puces. Le système utilise une technique sophistiquée de microscopie optique en champ sombre pour mesurer les propriétés électriques telles que la résistivité électrique, la capacité et les fuites. Cette unité permet de tester plusieurs puces simultanément à des vitesses extrêmement élevées, ce qui permet de tester des échantillons de comptage de broches élevées. Le prober contient un certain nombre de sous-systèmes intégrés, dont un sous-système d'alignement, un sous-système de mesure des capacités, un sous-système d'acquisition de données en temps réel et un sous-système de caractérisation des paramètres des semi-conducteurs. Un dispositif de détection de position précis et répétable assure un positionnement précis de l'échantillon soumis à l'essai par rapport aux éléments d'imagerie optique du probère. Un sous-système de mesure de capacité contient une sonde de tension de capacité et un analyseur d'inductance numérique à haut débit. Un sous-système d'acquisition de données en temps réel permet la capture simultanée de données de capacité et de données de fuite. Le sous-système de caractérisation des paramètres semi-conducteurs est capable d'échantillonner une large gamme de plages de paramètres avec une résolution de 8 bits et offre des capacités d'analyse statistique avancées. Le prober présente un certain nombre d'avantages par rapport aux méthodes d'essai traditionnelles. La machine est capable de tester très rapidement plusieurs puces simultanément, ce qui permet des essais quasiment impossibles à réaliser avec des méthodes d'essai manuelles. De plus, l'outil offre des mesures de haute précision sur un large éventail de paramètres. Cela en fait l'atout idéal pour les environnements de production où la répétabilité et la fiabilité sont primordiales. Dans l'ensemble, EG 4090u prober est un modèle avancé d'essai de semi-conducteurs haute vitesse qui fournit des résultats précis et fiables. Avec ses multiples sous-systèmes intégrés, ses éléments d'imagerie optique avancés et ses instruments numériques à haut débit, il est la solution idéale pour les applications de test à haut débit dans un environnement de production rapide.