Occasion FITTECH IPT6000 #9036940 à vendre en France
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ID: 9036940
Style Vintage: 2011
LED chip / wafer probing and testing systems
Shield designed to eliminate back light interference
Build-in optical linear encoder
Recordable vocal alert system
Brightness measured by silicon PD
Currently operational
2011 vintage.
FITTECH IPT6000 offre un système complet pour tester des circuits intégrés et des dispositifs de dimensions inférieures au micron, tout en offrant la flexibilité nécessaire pour mesurer une grande variété de types de pièces et de technologies. IPT6000 est un prober haute résolution doté d'un étage X/Y tournant et d'un étage Z commandé par PC qui permet de tester simultanément diverses tailles d'appareils jusqu'à une taille maximale de 6,0 « x 6 ». Il est capable de sonder jusqu'à des intervalles de 0,25 µm, fournissant la résolution la plus élevée disponible pour la technologie de puce actuelle et de prochaine génération. FITTECH IPT6000 prend en charge plusieurs configurations de tests, y compris la production à grande vitesse, l'analyse multifréquence, paramétrique et de défaillance. Il dispose de multiples multiplexeurs de broches à grande vitesse pour réduire le temps de parallèle qui est nécessaire pour les applications de test à grande vitesse. La conception de la carte de sonde est assez polyvalente pour supporter la capture de rayons, les pierres simples, les pierres multiples, les ensembles verticaux de contact, la bosse de puce de flip, ainsi que le test de contact de réseau et de plots de liaison. Le prober est équipé d'une station de chargement/déchargement automatique avec deux caméras aériennes pour positionner avec précision les pièces. La configuration et le contrôle du processus sont IPT6000-preset, ce qui permet un fonctionnement plus facile. L'interface graphique avancée permet aux utilisateurs de surveiller leurs paramètres de processus en temps réel et de les ajuster rapidement en conséquence. La robustesse du prober permet des tests paramétriques haute fréquence, y compris le tri des plaquettes, la caractérisation thermique rapide, le test Auger, l'étalonnage et la caractérisation de la filière haute vitesse. FITTECH IPT6000 est particulièrement efficace pour les tests à faible bruit et à haute résolution des IC à large bande, des composants discrets et des appareils électriques. Le système de sonde est unique dans sa capacité à fournir une solution d'essai complète. Il est capable de se connecter à un ordinateur central multi-blocs pour permettre une solution évolutive et un accès simultané à plusieurs poignées de test. IPT6000 prend en charge plusieurs configurations d'E/S, telles que USB, Ethernet et GPIB, permettant une connexion facile à une variété d'instruments de test. FITTECH IPT6000 propose des solutions complètes pour les tests de production, l'environnement de laboratoire et diverses applications de recherche et développement. Ses performances haut de gamme, sa grande vitesse et sa précision garantissent des tests fiables et un retour sur investissement rapide.
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