Occasion FITTECH LFP6000 #293659505 à vendre en France

Le prober FITECH FITTECH LFP6000 est une solution de test haute performance pour sonder des matériaux semi-conducteurs délicats, fournissant des lectures fiables et précises pour la caractérisation des matériaux semi-conducteurs. Équipé d'une tête de balayage à 8 axes qui se déplace rapidement entre les emplacements d'essai, le prober permet de sonder automatiquement les matériaux à des résolutions ultrafines aussi petites que 40 µm. Le prober est capable de produire des ensembles de données de haute qualité avec une précision répétable et une dérive minimale dans les lectures. Le prober FITECH LFP6000 est conçu pour tester une grande variété de matériaux tels que le silicium, le nitrure de gallium, le nitrure d'aluminium, et même des matériaux spécialisés comme le graphène. Le prober utilise un système Contact et Non-Contact, qui permet aux utilisateurs d'échanger des sondes rapidement et avec précision. Le prober fournit de multiples fonctions telles que le balayage des plaquettes, le balayage de la filière, le balayage de la filière de l'emballage et la mesure des paramètres électriques. En outre, le prober dispose d'un scanner à code-barres, qui peut être utilisé pour lire et stocker rapidement des informations sur les plaquettes et améliorer encore la précision de la vérification. Le prober est optimisé pour réduire le temps de cycle avec son débit de transfert de données rapide. Il dispose également d'un système de hucking Vacuum avec une cale à vide brevetée, permettant un alignement serré et fiable des échantillons. En outre, le prober dispose d'une option de chargement manuel ou automatique des plaquettes. Le processus de chargement automatique des plaquettes permet une précision et une répétabilité accrues. FITTECH LFP6000 prober a intégré des fonctionnalités d'inspection pour garantir la précision. Il utilise une variété de systèmes de métrologie et de vision pour inspecter et valider l'intégrité des plaquettes et des meurtrières. De plus, le prober est équipé d'un microscope de défaut in situ, permettant l'imagerie automatisée des zones suspectées de défaut avant la recherche. Dans l'ensemble, le prober FITECH LFP6000 offre une solution fiable et précise pour le test et la caractérisation des semi-conducteurs, avec une variété de fonctions de sondes et de capacités d'inspection. C'est un outil idéal pour caractériser les matériaux nouveaux et délicats avec la résolution et la répétabilité les plus serrées.