Occasion FITTECH LFP6000 #293662292 à vendre en France

FITTECH LFP6000 est un prober conçu pour effectuer une sonde de haute précision et l'alignement laser des dispositifs microélectroniques et des composants discrets. Il peut être utilisé comme prober pour effectuer des tests de contact direct ou comme outil d'alignement laser pour un positionnement précis de l'extrémité de la sonde sur le dispositif ciblé. Le prober fournit un capteur de force de sonde à un seul point qui peut appliquer une pression réglable jusqu'à 3 Newtons. Il a une conception ergonomique unique qui permet le réglage confortable du bras de sonde à l'emplacement souhaité. Cette protubérance présente un étage double axe qui est capable d'assurer un alignement ultra fin avec une répétabilité sous micron. L'étape a une vitesse de balayage allant jusqu'à 7,5 millimètres par seconde pour un échantillonnage rapide et précis. La plage de mouvement de l'étage dans le plan X-Y est de 200 millimètres chacun. Il dispose également d'un axe Z motorisé qui est conçu pour affiner le niveau entre le dispositif testé et la sonde. Le prober comprend également une tête de microscope sans focalisation avec grossissement 10x et luminosité variable qui fournit une vue claire et précise de la zone de sonde. Ce microscope peut être utilisé en liaison avec le laser intégré du prober pour obtenir un alignement précis de la sonde sur le dispositif testé. Le laser a une longueur d'onde de 650 nm et une puissance de sortie de 1mW. Le prober comprend également une variété d'outils logiciels qui facilitent le transfert efficace de données et l'analyse des données. Ces outils sont compatibles avec les systèmes d'exploitation Windows et permettent aux utilisateurs de configurer, contrôler, mesurer et analyser les données automatiquement. Une bibliothèque de programmes faciles à utiliser permettant des tests automatisés est également disponible, ce qui rend la performance de multiples mesures et tests plus rapide et plus efficace. Le prober est livré avec une garantie de 3 ans et est certifié CE pour une utilisation sur les marchés européens. Il s'agit d'une solution idéale pour les essais non destructifs, les analyses de défaillances, les analyses de systèmes, les essais de semi-conducteurs, les sondages de plaquettes et les analyses de composants. Avec ses performances fiables, précises et son interface utilisateur intuitive, il est un excellent choix pour les utilisateurs qui nécessitent une détection de haute précision des dispositifs microélectroniques.