Occasion INNOBIZ IZ-WPS 5001 #9379291 à vendre en France

INNOBIZ IZ-WPS 5001 est un prober conçu pour faciliter les essais et l'évaluation des dispositifs semi-conducteurs. C'est un instrument de pointe qui offre un haut degré de précision et de répétabilité, et est idéal pour une utilisation dans les semi-conducteurs, l'optoélectronique, l'affichage à écran plat, et d'autres industries. L'IZ-WPS 5001 est conçu avec une tête de sonde automatique à trois axes qui offre un étalonnage automatique de la hauteur de pointe de sonde et un alignement sur un substrat cible. Cela garantit des mesures précises et répétables lors de la détection des points de contact. INNOBIZ IZ-WPS 5001 dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (GUI) qui fournit à l'utilisateur des contrôles clairs avec lesquels programmer, stocker et rappeler les paramètres du prober. Un écran tactile virtuel est utilisé pour configurer les paramètres du prober. Les paramètres de test du prober peuvent être ajustés en temps réel pendant un test, et les paramètres peuvent être stockés pour une utilisation future. IZ-WPS 5001 comprend un étage de précision pour le positionnement précis de la tête de sonde. La scène est motorisée, avec des options de nivellement automatique et de réglage fin via un joystick. L'étage monté permet l'engagement précis des points de contact de test sur le dispositif de mesure de la cible. INNOBIZ IZ-WPS 5001 offre une précision, une répétabilité et une fiabilité supérieures lors des tests. Le prober fournit des mesures rapides et précises sur une large gamme de résistance de contact, de capacité et d'inductance. Le prober supporte également le test à faible courant, donnant et une plus grande polyvalence aux essais de dispositifs semi-conducteurs. IZ-WPS 5001 est une solution rentable pour les essais qualitatifs et quantitatifs des dispositifs semi-conducteurs. Il est conçu avec la convivialité et la précision à l'esprit, fournissant une plate-forme fiable et intuitive pour les tests d'appareils. Le prober est également adapté à un plus large éventail d'applications, facilitant des tests complexes qui nécessitent de multiples mesures et interactions avec le dispositif cible.