Occasion ITC PB3500 #9190780 à vendre en France

ITC PB3500
Fabricant
ITC
Modèle
PB3500
ID: 9190780
Probe card analyzer 2005 vintage.
ITC PB3500 prober est un prober de wafer automatisé conçu pour inspecter et tester les puces semi-conductrices dans la chaîne de production. Ce prober automatisé de pointe offre des résultats de haute qualité et un niveau de précision supérieur pour tester et inspecter les semi-conducteurs utilisés dans un large éventail d'applications industrielles. PB3500 wafer prober dispose d'un équipement de serrage de tétra de précision unique. Ce système utilise quatre pinces manuelles indépendantes pour fixer la plaquette, assurant une charge parfaitement symétrique de chaque côté de la plaquette pour une précision supérieure lors des essais et de l'inspection. De plus, l'unité de pré-serrage électrique brevetée de la probère améliore la qualité du contact électrique entre la tête probère et la tête d'essai, ce qui donne des résultats d'essai extrêmement fiables. Le prober est équipé d'une machine de changement automatique d'aiguille très avancée et programmable. Cet outil permet aux utilisateurs de basculer rapidement entre différentes sondes, ainsi que de capter et placer plusieurs sondes en une seule opération. Ceci permet de tester rapidement et précisément plusieurs points sur une plaquette sans avoir à changer manuellement les sondes. ITC PB3500 wafer prober comprend également une suite logicielle évoluée et conviviale qui facilite le fonctionnement et la configuration du prober. Cette suite comprend un puissant langage descriptif paramétrique (PDL) qui peut être programmé pour personnaliser le processus de test automatisé aux besoins individuels de l'application. Le prober comprend également un outil de positionnement multi-axes très réactif et précis. Ce modèle permet au prober de se déplacer rapidement entre les points de contact, en veillant à ce que les tests à grains fins puissent être effectués avec précision, avec un délai minimal entre les tests. En outre, PB3500 est conçu pour soutenir les essais de plaquettes avec différentes épaisseurs, y compris les plaquettes de film mince, ainsi que de grandes plaquettes jusqu'à 200mm de diamètre. Enfin, le prober maintient un niveau impressionnant de précision et de répétabilité tout au long de son cycle de vie, réduisant encore la possibilité d'erreurs de test. Grâce à sa grande précision, sa fiabilité et sa facilité d'utilisation, ITC PB3500 wafer prober est un modèle haut de gamme pour les essais et l'inspection des semi-conducteurs.
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