Occasion KARL SUSS / MICROTEC PA 200 #9254829 à vendre en France

KARL SUSS/MICROTEC PA 200 est un prober conçu pour la recherche et le test de plaquettes de haute précision. Ce prober présente un large éventail de possibilités d'application, telles que la caractérisation électrique, optique et mécanique des plaquettes semi-conductrices, des puces et de la filière. MICROTEC PA 200 est capable de mesurer des sondes simples sous vide, en utilisant l'imagerie haute résolution et le contrôle électro-optique. Il a également la capacité de changer rapidement et précisément entre différentes sondes qui peuvent être appliquées à un semi-conducteur. KARL SUSS PA-200 dispose d'un environnement de test entièrement automatisé, avec une étape de positionnement XYZ. Cette étape permet un positionnement très précis de l'échantillon afin que la sonde puisse contacter avec précision l'échantillon. L'étage XYZ est également entièrement programmable, ce qui permet des tests hautement reproductibles sans avoir besoin d'une supervision manuelle constante. Il est également équipé d'un équipement automatisé de mesure de planarité, assurant un contact précis entre l'échantillon et la sonde, même sur les courbures. Le prober est recouvert d'un boîtier compact, qui est conçu pour minimiser les vibrations et la dérive de température. Cette diminution des vibrations conduit à des résultats plus précis. Le prober dispose également d'un système de contrôle thermique de haute qualité. Cette unité permet de maintenir une plage de température stable afin que toute plaquette testée ne soit pas affectée par des fluctuations soudaines de température. La grande chambre est capable de contenir une atmosphère d'air ou d'autres gaz sous vide. Cela permet des mesures propres dans différentes atmosphères. KARL SUSS/MICROTEC PA-200 dispose également d'une machine d'acquisition de données électriques robuste. Cet outil permet de mesurer les courants et tensions d'entrée et de sortie des circuits intégrés commutés, même à haute fréquence. Cela permet une analyse détaillée des composants sur la plaquette ou la puce testée. Le prober dispose également d'une variété de systèmes de mesure optique. Ces systèmes peuvent mesurer la topologie 3D et les caractéristiques de surface. Cet atout permet de mesurer et de comparer la hauteur des plots de contact et des bosses sur la puce pour des tests de fiabilité. Dans l'ensemble, PA-200 est un excellent prober qui peut être utilisé pour une variété d'applications de détection et de test de plaquettes semi-conductrices. Ses caractéristiques avancées offrent des mesures fiables et répétables avec une supervision manuelle minimale. Ses systèmes de mesure électriques et optiques robustes sont en mesure de révéler des informations critiques sur les puces et les plaquettes en cours de test. Le prober est également recouvert d'un boîtier compact qui minimise les vibrations et la dérive de température. Le régulateur thermique permet de maintenir une plage de température stable. Cela le rend adapté à la fois pour l'air et d'autres atmosphères à faible vide. Ce prober est idéal pour les laboratoires et autres applications de test de haute précision.