Occasion KARL SUSS / MICROTEC PA 300 #9112054 à vendre en France

KARL SUSS/MICROTEC PA 300 est un probère bidirectionnel complet conçu pour les essais et les sondages des plaquettes. Il est capable de sonder jusqu'à trois sites à la fois sur une seule filière, avec une taille maximale de plaquette de 8 pouces. L'équipement est composé de quatre composants principaux : une base prober, un contrôleur embarqué basé sur PC, un système de vision, et un étage X-Y prober. La base prober supporte la tête prober et l'unité de vision et comprend la machine de contrôle de mouvement et l'outil de positionnement d'axe Z. L'outil de contrôle de mouvement est chargé d'assurer le positionnement et la commande vectorielle de l'étage X-Y, tandis que le modèle de positionnement de l'axe Z est capable de fournir une commande précise de l'axe Z pour l'équipement de tête et de vision. La tête prober est conçue pour être compatible avec différentes cartes de sonde pour le test de wafer et IC, offrant une précision et une répétabilité supérieures lors du positionnement de la sonde à travers une plaquette. Le contrôleur intégré PC sur MICROTEC PA 300 dispose d'un système d'exploitation basé sur Windows, assurant le contrôle complet de l'unité par l'utilisateur. Il comprend également une interface utilisateur graphique et un langage de programmation pour permettre une programmation facile du prober. Le contrôleur offre également la possibilité de contrôler le prober à distance, ce qui signifie que les utilisateurs peuvent se connecter à l'interface et effectuer des tests de plaquettes et des sondages à distance. La machine de vision sur KARL SUSS PA300 fournit aux utilisateurs des capacités de vision complètes, leur permettant d'inspecter les plaquettes et les meurt pour l'analyse des défauts. Il dispose également d'un outil d'analyse d'image piloté par logiciel, pour permettre aux utilisateurs d'identifier et d'analyser rapidement les défauts des plaquettes. Enfin, MICROTEC PA300 comprend un étage sensible X-Y prober capable de fournir un positionnement dynamique et un balayage aléatoire, permettant aux utilisateurs de positionner avec précision la sonde à travers la plaquette et de recueillir des données à partir de plusieurs points de la filière. Le stade dispose également d'un atout à haute résolution qui permet de mesurer facilement la topographie d'une filière et d'aider à vérifier un contact réussi avec la sonde. Dans l'ensemble, PA300 est un probère bidirectionnel hautement capable conçu pour les tests de wafer et IC. Il dispose d'une combinaison d'une tête prober, d'un contrôleur intégré basé sur PC et d'un modèle de vision, ainsi que d'un étage X-Y sensible, pour fournir aux utilisateurs un équipement fiable pour sonder une plaquette et recueillir des données.