Occasion KLA / TENCOR 1007HF #141211 à vendre en France
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ID: 141211
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 1989
Wafer probing station, 6"
Microscope: OLYMPUS SZ4045 stereo zoom microscope
Power supply module
Power supply requirement: 115VAC, 30A
No software, manuals or additional accessories included
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1989 vintage.
KLA/TENCOR 1007HF Prober est une solution de mesure des plaquettes à la pointe de la technologie conçue pour fournir et inspecter des tests automatisés d'appareils au niveau des plaquettes avec une précision et un débit inégalés. KLA 1007HF Prober offre des avantages sans précédent pour les fabricants de semi-conducteurs, tels que des temps de test plus rapides, une plus grande précision et des performances de rendement améliorées. Il est conçu pour haute résolution et haute répétabilité, ce qui en fait le choix idéal pour le développement de processus et la caractérisation de test. TENCOR 1007HF Prober dispose d'une plate-forme d'architecture ouverte éprouvée qui prend en charge le test et la caractérisation d'une variété de types de plaquettes et de structures d'appareils complexes. Il utilise des sondes avancées, telles que les plaquettes de contrôle de pas (PCW), les plaquettes tranchées d'assemblage 2- à 6 dimensions (ASW) et les circuits intégrés spécifiques à une application (ASIC). 1007HF Prober prend également en charge les tests simples et multi-hit avec plusieurs modèles à grande vitesse. Les capacités uniques de caractérisation électrique de bas niveau KLA permettent aux ingénieurs d'extrapoler les données recueillies sur les plaquettes avec des mesures à haute vitesse et à haute résolution. KLA/TENCOR 1007HF Prober propose une suite d'algorithmes de test robustes qui fournissent des résultats précis, quelle que soit la complexité. De plus, KLA 1007HF Prober simplifie le processus de test en prenant en charge les fonctions de chargement, déchargement et tri automatisés. La technologie de contrôle de sonde TENCOR, puissante et en boucle fermée, garantit la précision, la répétabilité et la fiabilité des étapes de test. TENCOR 1007HF Prober fournit une solution logicielle pour traiter les demandes de sondes de plaquettes, avec l'avantage supplémentaire d'une puissante accélération de balayage basée sur le logiciel. Cela permet à l'utilisateur de personnaliser les analyses pour des performances et des rendements optimaux. 1007HF Prober dispose d'un système de vision avancé avec une suite de capacités d'imagerie avancées. Ce système détecte avec précision les défauts pour s'assurer que seules les plaquettes de haute qualité sont testées. Il mesure également les dimensions critiques, les adsorbeurs et les propriétés de fond et en rend compte. KLA/TENCOR 1007HF Prober est très flexible et peut être configuré comme un système à sonde unique ou multiple, offrant une évolutivité illimitée et des performances supplémentaires. Sa conception compacte et sa configuration modulaire lui permettent d'être facilement et rapidement modifiée pour des spécialités telles que les tests de plaquettes 300mm et les applications de haute puissance. KLA 1007HF Prober est la solution idéale pour les essais de dispositifs semi-conducteurs et est parfaite pour les laboratoires d'essais nécessitant des mesures de haute performance et précises.
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