Occasion MICROMANIPULATOR 2250 #9180599 à vendre en France

Fabricant
MICROMANIPULATOR
Modèle
2250
ID: 9180599
Large area panel prober With 36" x 48" air isolation table 14.5" x 14.5" Stage With quick load feature (16" Travel front to back) 34" x 4" Platen has independent X-motion With track drive for manipulator Fine platen Z lift MITUTOYO Microscope M plan objectives: 2x / 10x / 20x CCTV Camera and monitor 26" x 14" XY Microscope movement.
MICROMANIPULATOR 2250 est un prober conçu pour être utilisé dans la mesure à balayage de surface et le test de la carte de sonde des dispositifs semi-conducteurs. Il offre une grande vitesse, précision, répétabilité et précision. L'équipement est capable d'un large éventail de tests automatisés, y compris la détection de précision, la mesure, l'analyse et la caractérisation d'une variété de structures de dispositifs, à la fois simples et multicouches. 2250 comprend une variété de caractéristiques technologiques, ce qui en fait un choix idéal pour les applications standard et avancées de semi-conducteurs. A son cœur, il est équipé d'une table porteuse aérostatique de haute précision. Ceci fournit à l'utilisateur un contrôle de mouvement extrêmement précis, avec des mouvements sous-microns, et une faible dérive thermique pour améliorer la précision et la répétabilité. En outre, le système est équipé d'un étage Z de haute précision, sans jeu, capable d'une course verticale de 200mm. Cela permet de placer et de sonder les échantillons de façon très précise. Le MICROMANIPULATOR 2250 est également doté d'un capteur semi-conducteur avancé, avec une conception avancée permettant des performances de sondes rapides et fiables. Il a une surface de balayage de 40x26mm, avec la plus haute résolution de 1,5 um. La sonde est capable de tests à contact et sans contact, ce qui la rend adaptée à un large éventail d'applications. Il dispose d'une unité de commande de mouvement à grande vitesse, 5 axes, pour le mouvement rapide et l'emplacement de l'échantillon. En outre, 2250 est équipé d'une gamme d'outils de mesure et d'analyse avancés, faisant pour une machine de mesure complète. Il comprend un large éventail de techniques de balayage et d'imagerie, telles que la microscopie TV, la microscopie à force atomique (AFM), l'imagerie par résistance, le profilage par tension de capacité (CV), l'imagerie par capacité et les méthodes de sonde à quatre points. L'outil comprend également des routines de mesure programmables automatisées, qui peuvent analyser et caractériser rapidement et avec précision les appareils avec des taux de collecte de données jusqu'à 30X plus rapides que les méthodes traditionnelles. En résumé, MICROMANIPULATOR 2250 est un prober puissant et précis pour le test et l'analyse de dispositifs semi-conducteurs. Sa combinaison d'un contrôle de mouvement de haute précision, d'une technologie de prober avancée et d'une gamme d'outils de mesure et d'analyse avancés en font un choix idéal pour des applications semi-conductrices exigeantes.
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