Occasion MICROMANIPULATOR PROBE STATION #293634835 à vendre en France

ID: 293634835
Probe station.
Une sonde MICROMANIPULATOR STATION est un équipement de prober automatisé utilisé pour la caractérisation électrique complète des dispositifs semi-conducteurs. Il combine la commodité de l'analyse manuelle avec la précision des tests automatisés. La STATION SONDE automatisée comprend des micromètres de précision avec une précision de positionnement supérieure à 5 µm, des étages de translation en Z, des étages de translation XY et des étages rotatifs, offrant un contrôle de mouvement à six degrés de liberté. Ses logiciels et systèmes matériels spécialisés permettent un échange et un alignement rapides des plaquettes, ainsi que des mesures électriques précises. Le système MICROMANIPULATOR PROBE STATION permet une grande flexibilité dans la recherche, la caractérisation et les tests. Il se compose de trois composants principaux, un prober et deux zones de préparation (pour le conditionnement électrique et thermique). Le prober est utilisé pour aligner et connecter les sondes de roomasd test à la plaquette testée. La zone de préparation électrique contient les composants nécessaires pour effectuer des essais électriques, tandis que la zone de conditionnement thermique est conçue pour accueillir des températures élevées allant jusqu'à 300 ° C La station prober peut également être équipée de diverses caractéristiques supplémentaires, telles que des électromètres, des mesures de courant et des compteurs de capacités. Ces caractéristiques sont utilisées pour des essais complexes nécessitant des mesures précises de tension et de courant, ainsi que pour l'analyse des défaillances des dispositifs semi-conducteurs. En plus de ces composants de base, la station prober peut être équipée d'une variété d'accessoires et de mises à niveau. Il s'agit notamment d'un microscope électronique, d'une unité de cartographie automatique des plaquettes, d'un gestionnaire automatisé et de systèmes d'optique intelligents. Le gestionnaire automatisé aide à l'échange et à l'alignement des plaquettes, tandis que le microscope électronique permet l'observation des plaquettes à l'essai. La machine optique intelligente est utilisée pour l'alignement de précision de la pointe de la sonde sur le dispositif. PROBE STATION constitue une plate-forme automatisée fiable pour la caractérisation électrique des circuits intégrés, permettant une large gamme de mesures, d'inspection et d'analyse détaillées. La flexibilité de ses caractéristiques et composants est très avantageuse pour obtenir des résultats précis, complets et reproductibles dans une large gamme d'applications de semi-conducteurs.
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