Occasion MPI-FC LEDA-8S P7202-110 #9181610 à vendre en France

MPI-FC LEDA-8S P7202-110
Fabricant
MPI-FC
Modèle
LEDA-8S P7202-110
ID: 9181610
Tester.
MPI-FC LEDA-8S P7202-110 est un prober hautement fiable qui est conçu pour des applications de détection de plaquettes de précision dans les équipements automatisés de test et de mesure des semi-conducteurs. Ce prober utilise un capteur Doppler Vibromètre Laser 1-D (LDV) entièrement intégré qui est optimisé pour des mesures précises. Le capteur LDV travaille de concert avec un actionneur linéaire et une optique de précision pour détecter des signaux haute fréquence à la surface d'une plaquette de silicium. L'utilisation de la détection LDV permet au diffuseur de détecter de minuscules vibrations et déformations à la surface de la plaquette, permettant ainsi des mesures très précises des performances de la plaquette. L'équipement de contrôle avancé du LEDA-8S permet aux utilisateurs de contrôler le prober avec une gamme de séquences de sonde personnalisées, adaptées pour différents types de mesures de sonde de wafer. En effet, le système peut être configuré pour effectuer une cartographie de surface au cours d'un seul cycle de sondes de plaquettes. De plus, l'interface graphique oscilloscopique du prober permet à l'utilisateur de visualiser les données à l'écran que le capteur LDV recueille. Le prober prend également en charge divers langages de programmation tels que Python et C++, permettant aux utilisateurs de créer des processus de suivi de contrôle et d'extraction de données sur mesure. L'unité LEDA-8S est équipée de caractéristiques standard pour faciliter l'utilisation et l'entretien, telles que l'étalonnage automatique, une machine de nettoyage automatique, et des câbles magnétiques de connexion rapide. En outre, le prober est compatible avec les protocoles d'automatisation standard et présente un rapport signal-bruit élevé, permettant des mesures précises et fiables. Les caractéristiques remarquables de LEDA-8S P7202-110 en font un choix idéal pour les applications de sondes de plaquettes à grande échelle, telles que la détection de semi-conducteurs à haute performance, l'analyse du transfert de chaleur et les tests de résistance.
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