Occasion MPI-FC LEDA-8S P7202-110 #9181612 à vendre en France

MPI-FC LEDA-8S P7202-110
Fabricant
MPI-FC
Modèle
LEDA-8S P7202-110
ID: 9181612
Style Vintage: 2010
Testers 2010 vintage.
MPI-FC LEDA-8S P7202-110 est un prober spécialement conçu pour faire progresser les besoins de pré-développement et de tests de production des semi-conducteurs. Sa tête de huit sondes fournit une plate-forme de test haute vitesse et faible bruit, lui permettant de mieux gérer les signaux haute fréquence pour tester les composants et les produits. Le prober peut également effectuer plusieurs sondes en parallèle, ce qui le rend apte à tester plusieurs composants ou dispositifs. La tête de 8 sondes peut également gérer simultanément de grands nombres d'interconnexions, contribuant ainsi à accélérer les processus de test. La tête de sonde est faite de sondes à pointe pointue sous vide de précision conçues pour gérer des tests RF complexes et analyser diverses bandes ou couches. Il dispose également d'un système intégré de pointage de flux qui lui permet de localiser avec précision des plots de tailles et de formes variables. Ce prober offre un système de reconnaissance automatique du tableau de charge pour faciliter la configuration et le fonctionnement. Il peut détecter un large éventail de formes et de tailles, et rapidement mettre en place le prober pour les tests. Le programme de protection automatique garantit également que les composants restent sans défaut après le chargement et le déchargement. La polyvalence du LEDA-8S le rend également utile pour différents marchés. Il est optimal pour tester des produits sans fil, des cartes, des IC, des cartes à puce et des modules, ainsi que d'autres types de produits. Il est également bien adapté aux exigences du marché automobile. En outre, les microscopes confocaux qui accompagnent le LEDA-8S sont utiles pour assurer les mesures de la plus haute qualité des spécimens et des formes. En raison de ses performances et de sa personnalisation, LEDA-8S P7202-110 prober est un choix populaire pour de nombreux procédés avancés de production et de test de semi-conducteurs. Ce prober est conçu pour répondre aux exigences de l'industrie, permettant une efficacité et une précision accrues. Il est idéal pour les projets de recherche et de développement avancés, et aide à la caractérisation rapide des appareils rapidement et facilement.
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