Occasion NBK MPS-200 #9397408 à vendre en France

NBK MPS-200
Fabricant
NBK
Modèle
MPS-200
ID: 9397408
Wafer probe station.
NBK MPS-200 est un prober avancé conçu pour mesurer et inspecter avec précision les structures des plaquettes, la contamination par les particules et d'autres défauts dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est équipé de fonctions avancées pour améliorer la précision de l'analyse et réduire le temps et le coût de l'analyse. MPS-200 est équipé d'un moteur pas à pas haute performance qui peut détecter chaque mouvement, permettant un alignement de haute précision et la répétabilité des mesures. Il a une résolution XY de 0,7 micron et peut fonctionner dans une variété de tailles de plaquettes. Sa profondeur de focalisation est également étendue pour s'adapter à une large gamme d'épaisseur et de granulométrie. NBK MPS-200 peut être configuré avec une variété d'options telles qu'une zone X/Y étendue, une station d'étalonnage automatique, un gestionnaire de vide, un équipement de rétraction de sonde automatique et un système de diagnostic. La station d'étalonnage automatique permet l'acquisition d'images de haute précision et une position stable pour la mesure fine. Le servomoteur à vide permet de ramasser, de maintenir et de placer les plaquettes avec une unité de vide qui réduit les vibrations et améliore la stabilité et la précision. La machine à rétracter automatique de sonde garantit que les sondes peuvent être installées et rétractées en toute sécurité et rapidement pendant le transfert et la mesure. D'autres caractéristiques de MPS-200 incluent faible vibration, faible bruit, haute précision, haute vitesse de mesure et haute performance de balayage infrarouge multimode et analyse thermique. Avec l'algorithme avancé NBK, il peut détecter et localiser tous les défauts sur les surfaces de plaquettes avec une répétabilité de plus ou moins 0,3um et une sensibilité d'au moins 0,01um. En outre, NBK MPS-200 est équipé d'un outil de traitement d'image haute performance et de fonctions d'archivage, permettant à l'utilisateur de stocker des enregistrements de mesure dans une base de données sécurisée. Cela garantit la répétabilité et l'exactitude des mesures et des inspections. En outre, il est capable d'analyser de manière intégrée les données provenant de multiples systèmes de mesure, ce qui lui permet d'identifier avec précision la relation entre les caractéristiques de surface des plaquettes et d'autres facteurs. En résumé, MPS-200 est un prober avancé conçu pour la mesure et l'inspection fiables et précises des plaquettes. Il dispose de fonctions avancées pour aider à améliorer la précision de l'analyse et réduire le temps et le coût de l'analyse.
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