Occasion RUCKER & KOLLS / R&K R680A #139278 à vendre en France

Fabricant
RUCKER & KOLLS / R&K
Modèle
R680A
ID: 139278
Probe station.
RUCKER & KOLLS/R & K R680A est un produit spécialement conçu pour la détection de matrices semi-conductrices. Le prober est équipé d'un ensemble contacteur/carte sonde et d'un logiciel convivial avec des fonctions automatiques. L'ensemble contacteur et carte sonde est composé de deux parties : le contacteur et la carte sonde. Le contacteur est un dispositif sophistiqué à commande pneumatique conçu pour détecter et mesurer les signaux électriques avec une force de contact minimale. Il est conçu pour minimiser l'usure tout en maximisant la précision du signal et en permettant un sondage fiable. La carte de sonde est équipée de broches de contact dorées de haute précision qui permettent un contact efficace et répétable avec le dispositif testé. Le prober R 680A est configuré avec un mandrin de 60 fentes pour la traduction automatique et une caméra dédiée pour l'alignement optique. Il comprend un équipement d'alignement de masque à base d'IA qui reconnaît le type d'appareil et trouve automatiquement la zone cible de l'appareil. Il soutient également la technologie Enhanced-Gap de l'industrie aérospatiale, qui permet au prober de détecter et de manipuler des composants de différentes tailles, peu importe la forme et le rétrécissement. R&K R680A dispose également d'une solution de balayage de capacité qui permet de caractériser rapidement et efficacement les paramètres de capacité dans le dispositif testé. Cela permet de réduire les coûts de fabrication et d'obtenir des rendements élevés. Enfin, le prober utilise un système RFID qui permet aux utilisateurs d'identifier et de suivre automatiquement les plaquettes à chaque étape de production. En résumé, RUCKER&KOLLS R680A est un prober précis et fiable conçu spécifiquement pour la détection de matrices semi-conductrices. Le dispositif est équipé d'un ensemble contacteur/carte sonde, d'une unité d'alignement de masque à base d'IA, d'une solution de balayage des capacités et d'une machine RFID, ce qui en fait l'une des solutions les plus avancées pour le test des semi-conducteurs.
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