Occasion SEMICS Opus II #293586055 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober pour tester et mesurer les caractéristiques électriques des puces semi-conductrices. Il est conçu pour fournir des tests et des mesures électriques fiables des puces semi-conductrices avec la plus grande précision et précision possible. Il est capable de fournir des tests précis de différents types de matrices individuelles qui sont placées sur un seul ruban ou film et/ou sur un substrat multicouche. Opus II utilise diverses techniques dont RF sans contact, UHV, XPS et WDX pour tester des sondes sans contact combinées à un ensemble de plaquettes équipées de solutions de façonnage et de vitrage. L'équipement est conçu pour fournir des mesures très précises sur de petites surfaces et de grandes surfaces. L'utilisation d'une sonde sans contact permet de tester la puce sans contact et réduit les risques d'endommagement de surface ou mécanique des puces semi-conductrices. Il permet également de réduire le risque de désalignement et de contamination de surface en minimisant les zones de contact et les arcs potentiels. SEMICS Opus II est alimenté par le système SINGLS (Single and Large Surface) Probing, qui utilise une combinaison de technologies sans contact et basées sur le contact pour tester les sondes. Cette unité permet de sonder en parallèle plusieurs couches d'échantillons et plaquettes, permettant des tests plus précis et plus efficaces. De plus, la machine dispose d'un outil de manutention automatisé des plaquettes qui permet l'échantillonnage et le chargement automatisés des plaquettes. L'actif utilise également des cadres corrigés pour tester jusqu'à trois tailles de surfaces différentes, ce qui permet des tests plus précis et plus rapides. Opus II dispose d'une suite d'analyses intégrées qui fournit des outils complets d'analyse et d'évaluation des caractéristiques électriques des puces semi-conductrices. La suite comprend des caractéristiques telles que l'imagerie spectrale, spectrale et des outils d'analyse de mesure, qui peuvent tous être utilisés pour déterminer les caractéristiques électriques des puces semi-conductrices. De plus, le modèle fournit une visualisation des traces qui permet aux utilisateurs d'analyser rapidement leurs mesures et d'analyser les résultats. SEMICS Opus II est un prober polyvalent et puissant pour tester et mesurer les caractéristiques électriques des puces semi-conductrices. Il est conçu pour fournir des tests et des mesures fiables des puces semi-conductrices, avec un haut niveau de précision et de précision. L'équipement dispose également de capacités de chargement et d'essai automatisés, ainsi que d'une suite d'analyses intégrées pour l'analyse et l'évaluation des données. Le système est adapté à des applications de test complexes, et est le choix idéal pour des exigences de test avancées.