Occasion SEMICS Opus II #293644080 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober spécialement conçu pour les exigences exigeantes de l'inspection avancée des plaquettes. Le prober intègre des capacités de haute précision en matière de mouvement et de contrôle des fluides, d'imagerie avancée et d'automatisation. Il est capable de manipuler une large gamme de tailles de plaquettes, d'aussi petite que 1mm à aussi grande 12 pouces de diamètre. Il dispose également d'un système de vision intégré qui peut détecter des défauts jusqu'à 0,05 microns, ce qui en fait un outil fiable et précis pour inspecter les nanostructures les plus complexes. Le prober fonctionne avec un système d'exploitation autonome et une interface graphique conviviale, permettant une inspection facile et efficace des plaquettes. Il est équipé d'un étage réglable qui permet le déplacement et le positionnement des échantillons, permettant un alignement fiable des plaquettes et un positionnement pour une inspection précise. Il est également équipé de systèmes d'alignement et de direction dédiés qui assurent une navigation rapide et précise à l'emplacement de mesure de chaque échantillon. Le prober dispose d'un système d'imagerie puissant qui utilise une résolution exceptionnellement nette avec une gamme de contrastes et de sensibilités, permettant une vérification précise des caractéristiques à l'échelle micron. Son éclairage à spectre complet et son optique avancée fournissent une image tridimensionnelle de la plaquette inspectée, offrant un aperçu inégalé des défauts de la plaquette. Le prober dispose également d'un FOUP intégré (nacelle unifiée à ouverture avant), permettant une manipulation sûre et fiable des échantillons. Il est également équipé d'une caméra CCD, d'un écran tactile LCD et d'un contrôleur thermique intégré, offrant une acquisition de données fiable et des résultats reproductibles. Le prober comprend également plusieurs logiciels pour gérer et automatiser le traitement et l'analyse des échantillons. Ces programmes comprennent un éditeur de programme facile à utiliser, qui permet la création rapide de protocoles personnalisés de collecte de données, ainsi que l'analyse statistique automatisée des données. Opus II est l'outil parfait pour l'inspection sophistiquée des plaquettes, fournissant la capacité d'inspection des plaquettes la plus fiable et la plus précise pour les nanotechnologies de pointe. Il offre une solution entièrement automatisée et à haut débit pour une inspection fiable des plaquettes, et il est idéal pour la vérification des plaquettes, l'analyse des défauts, l'évaluation des processus et le développement de produits.