Occasion SEMICS Opus II #293645158 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober haute performance pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est utilisé pour tester, caractériser et déboguer des dispositifs semi-conducteurs et des circuits intégrés (IC). Le prober fournit un ensemble complet de caractéristiques et de capacités, y compris la sondes, l'imagerie et la caractérisation électrique. Il dispose d'une interface automatisée programmable et de routines de test complètes qui permettent à un utilisateur d'analyser rapidement et avec précision les composants, les puces, les paquets et les cartes. Opus II prober offre un large éventail de caractéristiques techniques et d'options qui le rendent adapté à une variété d'applications industrielles et de recherche. Ce prober est capable d'effectuer une variété d'essais physiques, y compris des essais de résistance au contact, de mesure de l'entrefer, d'essai de tension de claquage diélectrique, d'essai de décharge électrostatique (ESD) et de surveillance des performances électriques. En outre, l'équipement offre des capacités d'imagerie avancées, permettant aux utilisateurs de capturer des images haute résolution de l'appareil à l'essai, permettant une analyse rapide et précise. SEMICS Opus II prober comprend également un système intégré de détection sous vide, permettant une détection et une imagerie de haute précision avec une manipulation de contact minimale. L'unité intègre un logiciel de pointe pour la surveillance en temps réel de la signalisation électrique et la surveillance de la force de contact. Une fonction d'Autocalibration en option ajoute la capacité de surveiller et de régler la dérive thermique de la machine de mesure de la force du prober. L'outil offre également de puissantes capacités d'acquisition et d'analyse de données, avec des capacités d'enregistrement de données et d'analyse visualisée. Les fonctions d'analyse permettent à un utilisateur d'inspecter des données statistiques telles que la moyenne, l'écart type et les histogrammes, ainsi que des outils graphiques personnalisables qui permettent une analyse détaillée des paramètres de performance des contacts. Opus II prober comprend également un système de changement de carte de sonde fiable et une interface graphique intuitive, ce qui le rend facile à utiliser. SEMICS Opus II est un outil efficace et précis pour tester, caractériser et déboguer les dispositifs semi-conducteurs et les circuits intégrés. Ses fonctionnalités et options avancées le rendent adapté à une variété d'applications industrielles et de recherche, contribuant à assurer le plus haut niveau de performance.