Occasion SEMICS Opus II #293706514 à vendre en France

SEMICS Opus II est une plate-forme de sonde avancée qui sert d'outil puissant pour la caractérisation et l'analyse des défaillances des dispositifs semi-conducteurs. Utilisant les dernières technologies de test et de sondes, Opus II permet de tester avec précision les dernières technologies de semi-conducteurs. Il s'agit d'une plate-forme complète, permettant aux utilisateurs de concevoir, déboguer et tester jusqu'à 24 sites de sonde de wafer jusqu'à 500 MHz avec un niveau de précision inégalé. SEMICS Opus II offre une gamme de capacités pour répondre aux besoins des applications basse tension et haute vitesse. Pour les applications basse tension, Opus II supporte une variété de techniques de sondes précises en courant continu, telles que la sonde Low Voltage Gain (LVG) et Low Leakage Current (LVC). La plate-forme de sonde offre également l'état de la technique In-Circuit Isolation (I2) et High Voltage Isolation (HVI) pour tester des dispositifs haute tension. En outre, SEMICS Opus II fournit des capacités de sondes différentielles, permettant aux utilisateurs de détecter même les problèmes d'intégrité du signal les plus subtils. En plus de ses capacités basse tension et haute vitesse, Opus II offre également une gamme de fonctions de test. Il s'agit notamment de la caractérisation des parasites, des mesures des formes d'onde temporelles, de l'analyse du débit d'essai et du profilage thermique. Grâce à ses capacités avancées de détection et d'isolation des défauts, SEMICS Opus II est un outil puissant pour identifier et isoler même les défauts les plus insaisissables. En outre, Opus II est amélioré par une suite d'outils de la bibliothèque SEMICS. Ces outils permettent aux utilisateurs de développer rapidement des stratégies de sondes et des processus de débogage, ainsi que de générer automatiquement des programmes de mesure. Conformément aux différentes normes ATPG (Automatic Test Pattern Generation), SEMICS Opus II permet une génération et une programmation rapides et efficaces des modèles de test. Cela, à son tour, augmente l'efficacité du processus d'essai et permet des temps de cycle plus courts dans les essais de production. En résumé, l'Opus II est une solution tout-en-un pour le test et le débogage des semi-conducteurs. Il fournit les outils et les fonctions nécessaires pour le test à haute fidélité et à grande vitesse des dispositifs semi-conducteurs avancés d'aujourd'hui. Avec des capacités de sondes avancées, des fonctions de test fonctionnel synchronisées et une suite d'outils de bibliothèque SEMICS, SEMICS Opus II offre une précision et une efficacité inégalées pour les tâches de test et de débogage.