Occasion SEMICS Opus II #293714774 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober de nouvelle génération, conçu pour tester des appareils avancés dans des applications de test automatisé de plaquettes. Il fournit la capacité de répondre aux exigences difficiles des applications de test de wafer de prochaine génération. Opus II a amélioré et étendu ses fonctionnalités par rapport aux plates-formes existantes utilisées dans les essais de semi-conducteurs. SEMICS Opus II est un prober avancé qui offre un haut débit avec une grande flexibilité. Les mécanismes inclus dans la conception assurent une caractérisation précise de la cohérence des dispositifs. Opus II est conçu avec des contrôleurs VXI et des instruments de mesure d'essai avancés pour mesurer les paramètres électriques et optiques des appareils. L'équipement mesure avec précision les caractéristiques du dispositif avec confiance statistique. SEMICS Opus II prober est équipé d'un système de test électrique avancé, qui utilise les dernières technologies et instruments pour mesurer avec précision les paramètres de l'appareil. L'unité de test électrique intègre des sondes personnalisées, des cartes de poinçonnage personnalisées et une large gamme d'instruments de test spécifiques à l'application. Les sondes personnalisées fournissent un contact direct aux plots de contact de l'appareil, tandis que les cartes de poinçonnage personnalisées réduisent le nombre de cycles requis pour effectuer des tests. La machine est également équipée d'instruments de test optique, tels que des caméras et des lasers, pour une analyse plus poussée des dispositifs semi-conducteurs. Le test optique permet de caractériser davantage les dispositifs, tels que les cartes de filière et de plaquette, et il effectue des tests de plaquette complète avec une grande précision. En outre, le prober est équipé d'une chambre de température et d'humidité, qui sert à mesurer les effets des conditions environnementales sur les performances du dispositif. La suite logicielle intégrée du prober offre des fonctionnalités avancées pour une analyse complète des résultats des tests. La suite logicielle comprend plusieurs modules tels que le contrôle de prober, la mesure de test, l'analyse et le stockage de données. Le logiciel peut être configuré pour répondre aux exigences de l'application, et il comprend également du matériel pédagogique pour l'utilisation du prober. Opus II prober est un outil efficace pour tester des dispositifs semi-conducteurs avancés de nouvelle génération. Il est conçu avec des caractéristiques avancées pour fournir une mesure précise des caractéristiques du dispositif et assurer une analyse précise des résultats des essais. La suite logicielle intégrée offre une gamme de fonctionnalités, y compris le contrôle de prober, la mesure de test, l'analyse et le stockage de données. Le logiciel est également facile à configurer pour répondre aux exigences de l'application. Le prober est adapté à une variété d'applications de test de plaquettes, y compris les appareils avancés.