Occasion SEMICS Opus II #293731356 à vendre en France

SEMICS Opus II
Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus II
ID: 293731356
Style Vintage: 2007
Prober 2007 vintage.
SEMICS Opus II est un prober conçu pour tester et caractériser les circuits haute fréquence. C'est l'outil ultime pour tester des appareils haute fréquence et possède des fonctionnalités qui lui permettent d'être utilisé dans une variété d'applications, y compris les conceptions automobiles, industrielles et de télécommunications. Opus II offre des performances supérieures, une fiabilité et une interface facile à utiliser. SEMICS Opus II a un petit facteur de forme, le rendant portable et facile à utiliser dans différents environnements de test. Son interface conviviale dispose de menus et de commandes contrôlés par logiciel qui permettent aux utilisateurs de compléter rapidement et avec précision les procédures de test. En outre, Opus II est équipé d'une variété de connexions d'entrée et de sortie, permettant de tester divers types d'appareils et de connexions. Parmi les autres options, mentionnons la régulation de la tension continue et la détection laser lointaine pour les applications de test haute fréquence. L'architecture robuste de SEMICS Opus II fournit des mesures précises et des lectures automatiques du système. Le système est équipé d'une variété de fonctionnalités telles que la compensation automatique des retards, les sorties de feuilles étalées, les paramètres programmables et un ensemble de critères de réussite/échec. Les capacités d'analyse automatisées fournissent des résultats de test précis et même des notifications de défauts ou de défaillances dans le composant testé. Les capacités avancées d'Opus II permettent aux utilisateurs d'analyser avec précision les performances des circuits haute fréquence. De plus, sa vaste gamme de réglages automatisés permet un meilleur contrôle du processus de test. Grâce à ses fonctionnalités avancées et sa flexibilité, SEMICS Opus II est devenu le choix privilégié des ingénieurs pour vérifier les exigences de tests haute fréquence.
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