Occasion SEMICS Opus II #293731359 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober avancé développé par SEMICS pour tester des plaquettes semi-conductrices et des puces de circuits intégrés. Il permet de sonder et de vérifier les composants, libérant ainsi tout le potentiel du dispositif. L'équipement dispose d'un ensemble unique d'outils pour tester, mesurer, analyser et optimiser rapidement et avec précision. Ces outils comprennent un écran vidéo couleur, un logiciel de sondage multicouche, un contrôleur de débit avancé et un système d'acquisition et d'analyse de données. L'unité Opus II est équipée d'un contrôleur de débit puissant, conçu pour des opérations de sondes rapides, précises et fiables. Sa conception modulaire et son interface utilisateur conviviale le rendent facile à utiliser. Son mécanisme efficace de sonde de plaquettes élimine les cas de mauvais contact électrique, et il est capable de supporter la sonde simultanée de positions de plaquettes multiples. La machine SEMICS Opus II est également équipée d'un logiciel de sondes multicouche haute résolution. Cet outil permet aux utilisateurs de sonder rapidement plus de dix mille points de test sur des plaquettes semi-conductrices ou des puces de circuit intégré, et de vérifier l'intégrité de la géométrie du dispositif. Le logiciel prend en charge diverses tâches de mesure et d'analyse, permettant aux utilisateurs d'évaluer le comportement et la fiabilité des composants. L'outil dispose également d'un actif avancé d'acquisition et d'analyse de données. Ce modèle est capable de recueillir des données à partir du logiciel de sondage multicouche, tout en fournissant la capacité d'analyser, de graphier, de rapporter et de contrôler le processus d'évaluation. Il est conçu pour permettre une couverture d'essai maximale et minimiser le temps d'évaluation des composants. L'équipement supporte également diverses techniques d'isolation des défauts, telles que l'adaptation des motifs et le tranchage temporel. Enfin, le système Opus II est équipé d'un moniteur vidéo couleur, permettant à l'utilisateur d'observer le comportement de l'appareil et les animations en direct. Cette visualisation en temps réel aide à comprendre le comportement des appareils et à développer des stratégies de sondes améliorées. Dans l'ensemble, SEMICS Opus II est une unité avancée, facile à utiliser, capable de tester, mesurer, analyser et optimiser rapidement et avec précision. Son interface utilisateur conviviale, son logiciel de sonde multicouche, son contrôleur de débit et sa machine de visualisation en temps réel lui permettent de sonder avec précision et efficacité les plaquettes de semi-conducteur et les puces de circuit intégré.