Occasion SEMICS Opus II #293831128 à vendre en France

Fabricant
SEMICS
Modèle
Opus II
ID: 293831128
Style Vintage: 2010
Prober 2010 vintage.
SEMICS Opus II est un appareil de microscopie électronique à balayage (SEM) conçu pour tester et sonder les circuits analogiques haute fréquence. Il est capable de tester des circuits RF à courant continu et multi-MHz sur des substrats tels que le silicium, l'arséniure de gallium et le verre. Le système comprend une plate-forme d'inclinaison de surface de précision, un étage d'échantillonnage XYZ de haute précision, un mandrin d'index tournant à une vitesse de 4 tours/minute, ainsi qu'une unité RF complète comprenant des sources de signaux, des sondes, un interrupteur multifonctions, un coupleur directionnel et un amplificateur RF intégré. Opus II dispose d'un faisceau d'électrons à haute énergie pour tester des composants haute fréquence et présente des capacités d'alignement très stables et précises en utilisant des codeurs optiques à haute résolution pour les largeurs d'impulsions du domaine des nanosecondes. Il est également capable de tester des appareils jusqu'à 1,5 GHz et offre une excellente qualité de surface pour divers matériaux tels que le nitrure d'aluminium (AlN), l'oxyde d'aluminium (AlOx) et le polyimide (PI). En outre, la machine peut générer des taux de numérisation multiples de 1,5 μ m/sec à 333 μ m/sec en utilisant le contrôle automatique de vitesse de numérisation en option. L'outil est équipé d'étages d'échantillons chauffés et d'une unité d'interface sous vide qui permet aux utilisateurs d'accéder à des conditions de vide élevé, et comprend également des manipulateurs pour la manipulation des dispositifs et des capteurs de proximité. L'actif dispose d'une conception compacte le rendant facile à mettre en place et à installer, et le logiciel inclus permet aux opérateurs de contrôler et de surveiller facilement les opérations des modèles. Grâce à ses fonctions automatisées, SEMICS Opus II peut fonctionner avec un taux de précision de signal allant jusqu'à 0,040 %. Dans l'ensemble, Opus II est un appareil de microscopie électronique à balayage haut de gamme qui fournit des tests précis et reproductibles pour des circuits sur des appareils et substrats à haute fréquence. Sa conception compacte le rend facile à installer, et ses caractéristiques robustes permettent aux utilisateurs d'effectuer des sondages de haute précision en quelques minutes. Grâce à ses fonctions automatisées, les utilisateurs peuvent surveiller et contrôler le fonctionnement rapidement et facilement.
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