Occasion SEMICS Opus II #9119446 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober technologique de pointe qui est utilisé pour l'analyse des défauts de plaquettes de contact, sans contact, composant IC et semi-conducteur. Conçu pour une précision et une répétabilité élevées, Opus II détecte avec précision et rapidité les défauts mineurs sur les surfaces des plaquettes et dans les fils et les plots de contact. SEMICS Opus II fonctionne dans des environnements contrôlés par la température et dispose d'une optique avancée et d'un alignement des sources avec un système breveté d'orientation des plaquettes. Les systèmes optiques du prober comprennent une lentille de zoom à foyer variable et un étage piézo-électrique XYZ, ce qui permet au technicien d'ajuster manuellement la lentille de zoom et la position de la sonde sur la plaquette. En plus de son optique haute résolution, Opus II est équipé de capteurs de contact avancés et sans contact capables de détecter des défauts invisibles dans les structures à des vitesses extrêmement élevées. Les capteurs sont capables de capter même de petits défauts structurels, tels que des variations de densité de circuit. Le prober intègre également une caméra CCD haute résolution et une caméra IR très sensible. La caméra CCD capture des images jusqu'à 8 millions de pixels, tandis que la caméra IR capte les variations minuscules de température émises par des zones légèrement défectueuses. Pour le dépannage et le débogage, SEMICS Opus II comprend une suite de tests d'une valeur inestimable qui fournit une analyse statistique précieuse, la détection des défauts et l'analyse des pannes simulées par ordinateur. Les capacités d'acquisition et d'analyse de données les plus récentes du prober sont disponibles avec des mises à jour en temps réel. Opus II est conçu pour identifier rapidement les défauts liés au produit, aider à réduire les coûts du produit, réduire les temps d'arrêt de production et améliorer la qualité du produit.