Occasion SEMICS Opus II #9134401 à vendre en France

SEMICS Opus II est un prober de microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'inspection des semi-conducteurs. Il est capable de mesurer des paramètres électriques tels que la tension de seuil, le courant de fuite de grille et la mobilité des porteurs de canal, ainsi que des mesures de petites topologies de surface. La grande taille du prober lui permet de mesurer simultanément plusieurs dispositifs sur une même plaquette, tandis que la précision et la précision de la machine permettent des mesures précises. L'opus II est constitué d'une enveloppe sous vide, d'une colonne de poutre et d'un ensemble d'étages, d'une station de sonde et d'un porte-échantillons. L'enveloppe sous vide sert d'environnement où l'échantillon à tester peut être maintenu sous vide. La colonne de faisceau et l'ensemble d'étage abritent les composants électrons-optiques, à savoir la source d'électrons, les lentilles électromagnétiques et un ensemble cible. La station de sonde est conçue pour monter et manipuler avec précision la sonde à la surface de l'échantillon. Il contient également l'électronique nécessaire à la polarisation et aux essais électriques du dispositif à l'essai. Le porte-spécimen sert de source de chaleur et est conçu pour contenir jusqu'à quatre plaquettes en même temps. SEMICS Opus II utilise un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM). Ce type de SEM utilise un canon à électrons au lieu d'une source thermionique classique, ce qui signifie qu'il n'est pas limité par les effets de l'énergie thermique. Les FE-SEM sont capables de fournir des images détaillées de petites topologies de surface et permettent également des mesures électriques de petits appareils. Opus II propose également diverses fonctions de support permettant de mesurer avec précision les dispositifs testés. La surface de l'échantillon peut être étalonnée automatiquement pour un positionnement précis de la sonde sur le dispositif. Il permet également l'imagerie frontale et arrière, ainsi que les tests électriques, pour mesurer des paramètres tels que la tension de seuil, la résistivité et la capacité. SEMICS Opus II est un prober avancé conçu pour fournir des résultats d'essai fiables et précis pour les dispositifs semi-conducteurs. Il est capable de mesurer plusieurs appareils sur une même plaquette et peut fournir des images détaillées de petites topologies de surface ainsi que des mesures électriques précises. C'est un outil efficace pour inspecter et tester les performances des dispositifs semi-conducteurs.